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  1. Thomas Mühl
    5., überarbeitete und erweiterte Auflage. - Wiesbaden: Springer Vieweg, [2017]
    Monographie, Lehrbuch, Gedruckte Ressource
  2. von Rainer Felderhoff
    1. Aufl.. - München [u.a.]: Hanser, 1976
    Monographie, Einführung, Gedruckte Ressource
  3. E. Schrüfer
    München [u.a.]: Hanser, 1983
    Monographie, Einführung, Gedruckte Ressource
  4. Hans Benedikt, Gerhard Raum, Hans-Rolf Tränkler
    2. Aufl.. - München [u.a.]: Oldenbourg, 1976
    Monographie, Aufgabensammlung, Gedruckte Ressource
  5. von Hans-Rolf Tränkler
    4. Aufl.. - München [u.a.]: Oldenbourg, 1996
    Monographie, Gedruckte Ressource
  6. Rainer Parthier
    1. Aufl.. - Braunschweig [u.a.]: Vieweg, 2001
    Monographie, Lehrbuch, Gedruckte Ressource
  7. von Herbert Bernstein
    3rd ed. 2020. - Wiesbaden: Springer Fachmedien Wiesbaden, Imprint: Springer Vieweg, 2020
    Online Monographie, Elektronische Ressource
  8. von Rainer Parthier
    9th ed. 2020. - Wiesbaden: Springer Fachmedien Wiesbaden, Imprint: Springer Vieweg, 2020
    Online Monographie, Elektronische Ressource
  9. Hans Benedikt ; Gerhard Raum ; Hans-Rolf Tränkler
    3. Aufl.. - München [u.a.]: Oldenbourg, 1979
    Monographie, Aufgabensammlung, Gedruckte Ressource
  10. Pflier ; Jahn
    3., völlig neubearb. Aufl.. - Berlin [u.a.]: Springer, 1965
    Monographie, Gedruckte Ressource
  11. von Herbert Bernstein
    München: Oldenbourg, 2013
    Monographie, Gedruckte Ressource
  12. Autoren Fuad Aliew ... [Agilent Technologies]. Wolf-Jürgen Becker ... (Hrsg.)
    2., überarb. Aufl.. - Heidelberg: Hüthig, 2000
    Lehrbuch, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  13. R. ZWICKY ; J. WEILER
    ZUERICH: AMIV-VERL
    Monographie, Teil eines Werkes, keine Angabe
  14. R. ZWICKY ; J. WEILER
    ZUERICH: AMIV-VERL
    Monographie, Teil eines Werkes, keine Angabe
  15. Hans Neumann ; Klaus Schäfer
    Berlin: Akademie-Verl, 1982
    Monographie, Gedruckte Ressource
  16. Conference on Precision Electromagnetic Measurements
    New York, NY: IEEE, 1986
    Monographie, Teil eines Werkes, keine Angabe
  17. Instrumentation and Measurement Technology Conference, 4, 1987, Boston, Mass
    Piscataway, NJ: IEEE Service Center, 1987
    Monographie, Konferenzschrift, Gedruckte Ressource
  18. Electrical and Electronic Measurement and Test Instrument Conference and Exposition. Institute of Electrical and Electronics Engineers
    New York, NY: [Verlag nicht ermittelbar], 1981-
    Zeitschrift, Konferenzschrift, Gedruckte Ressource
  19. Reinhold Drachsel
    4., bearb. Aufl.. - Berlin: Verl. Technik, 1974
    Monographie, Gedruckte Ressource
  20. von Ludwig Merz
    3. Aufl., unveränd. Nachdr. d. 2., verb. u. erw. Aufl.. - München [u.a.]: Oldenbourg, 1973
    Monographie, Teil eines Werkes, keine Angabe

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