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  1. Detailansicht für Treffer 1 öffnen
    Querschnitts-Raster-Tunnel-Mikroskopie an Silizium-Spaltflächen
    von Roland Nuffer
    Berlin: Logos-Verl, 2001
    Monographie, Hochschulschrift, Gedruckte Ressource
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    Electron microscopy and analysis
    Peter J. Goodhew ; John Humphreys ; Richard Beanland
    3. ed.. - London [u.a.]: Taylor & Francis, 2001
    Monographie, Gedruckte Ressource
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Das Mikroskop: gestern, heute, morgen
    Rzeznik, Jerry
    Ehningen bei Böblingen: expert-Verl, 1988
    Monographie, Gedruckte Ressource
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Mikroanalyse mit Elektronen- und Ionensonden: 16 Tabellen
    von einem Autorenkollektiv. Hrsg.: Otto Brümmer ..
    Leipzig: Dt. Verl. für Grundstoffindustrie, 1978
    Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    The science of paintings
    W. Stanley Taft ; James W. Mayer
    New York [u.a.]: Springer, 2000
    Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Electron and ion microscopy and microanalysis: principles and applications
    Lawrence E. Murr
    New York [u.a.]: Dekker, 1982
    Monographie, Gedruckte Ressource
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Applied charged particle optics, B
    ed. by A. Septier
    New York [u.a.]: Academic Pr, 1980
    Sammelwerk, Teil eines Werkes, keine Angabe
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    MIKROANALYSE MIT ELEKTRONEN- UND IONENSONDEN
    HRSG. VON OTTO BRÜMMER
    2., DURCHGES. AUFL.. - LEIPZIG: DEUTSCHER VERLAG FUER GRUNDSTOFFINDUSTRIE, 1980
    Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Handbook of microscopy, 2. Methods II: applications in materials science, solid state physics and chemistry
    ed. by S. Amelinckx ..
    Weinheim [u.a.]: VCH, 1997
    Sammelwerk, Teil eines Werkes, Gedruckte Ressource
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Microscopy of semiconducting materials: proceedings of the Royal Microscopical Society conference
    Conference on Microscopy of Semiconducting Materials
    Bristol [u.a.]: Inst. of Physics, 1979-1989
    Zeitschrift, Konferenzschrift, Gedruckte Ressource
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Struktur der Materie: Grundlagen, Mikroskopie und Spektroskopie
    von Wolfgang Göpel und Christiane Ziegler
    Stuttgart [u.a.]: Teubner, 1994
    Monographie, Gedruckte Ressource
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Synchrotron radiation research
    ED. BY HERMAN WINICK AND S. DONIACH. (CONTRIB.: FREDERICK C. BROWN ...)
    New York [u.a.]: Plenum Press, 1980
    Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Sehen heißt wissen: das Rasterelektronenmikroskop im Fehleranalyselabor ; diesem Buch liegen Arbeiten zugrunde, die im Alcatel-SEL-Forschungszentrum durchgeführt wurden
    Richard Eckert
    1. Aufl.. - Stuttgart
    Monographie, Gedruckte Ressource
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Scanning electron microscopy, X-ray microanalysis, and analytical electron microscopy: a laboratory workbook
    Charles E. Lyman ..
    New York [u.a.]: Plenum Pr, c 1990
    Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Handbook of microscopy, 3. Applications: applications in materials science, solid state physics and chemistry
    ed. by S. Amelinckx ..
    Weinheim [u.a.]: VCH, 1997
    Sammelwerk, Teil eines Werkes, Gedruckte Ressource
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    An introduction to microscopy by means of light, electrons, x-rays, or ultrasound
    THEODORE GEORGE ROCHOW AND EUGENE GEORGE ROCHOW
    3. Print. - NEW YORK (U.A.): Plenum Pr, 1980
    Monographie, Gedruckte Ressource
  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Festkörperanalyse mit Elektronen, Ionen und Röntgenstrahlen
    hrsg. von O. Brümmer ..
    Berlin: Dt. Verl. d. Wiss, 1980
    Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Material characterization using ion beams
    ED. BY J. P. THOMAS AND A. CACHARD
    London [u.a.]: Plenum Pr, 1978
    Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Elsevier's dictionary of microscopes and microtechnique: in English, French and German
    compiled by Robert Serré
    Amsterdam [u.a.]: Elsevier, 1993
    Mehrsprachiges Wörterbuch, Monographie, Nachschlagewerk, Gedruckte Ressource
  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Praxis der Rasterelektronenmikroskopie und Mikrobereichsanalyse
    Peter Fritz Schmidt ..
    Renningen-Malmsheim: Expert-Verl, 1994
    Aufsatzsammlung, Sammelwerk, Gedruckte Ressource

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