Zum Hauptinhalt springen
UB Hagen

Suchergebnisse

UB Katalog
229 Treffer

Suchmaske

Suchtipp für den Bereich UB Katalog: Wörter werden automatisch mit UND verknüpft. Eine ODER-Verknüpfung erreicht man mit dem Zeichen "|", eine NICHT-Verknüpfung mit einem "-" (Minus) vor einem Wort. Anführungszeichen ermöglichen eine Phrasensuche.
Beispiele: (burg | schloss) -mittelalter, "berufliche bildung"

Suchergebnisse einschränken oder erweitern

Erscheinungszeitraum

Zugang

Literaturtyp

Schlagwort

Sprache

Form

Person

229 Treffer

Sortierung: 
  1. Detailansicht für Treffer 1 öffnen
    Erhöhung der Beständigkeit von Sensorchips gegen Elektrolytkontakt durch Passivierungsschichten mit verbesserter Barrierewirkung
    Frank H. Faßbender
    Aachen: Shaker, 2000
    Monographie, Hochschulschrift, Gedruckte Ressource
  2. Detailansicht für Treffer 2 öffnen
    Wissensbasierte Werkzeuge für die optimierende Prüfplanung elektronischer Baugruppen
    Martin P. Weiss
    Als Ms. gedr.. - Düsseldorf: VDI-Verl, 1990
    Monographie, Gedruckte Ressource
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Hochintegrierte Schaltungen: prüfgerechter Entwurf und Test ; mit 52 Tabellen
    Hans-Joachim Wunderlich
    Berlin [u.a.]: Springer, 1991
    Monographie, Hochschulschrift, Gedruckte Ressource
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Characterization methods for submicron MOSFETs
    edited by Hisham Haddara
    Boston [u.a.]: Kluwer, 1995
    Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Test und Testbarkeit digitaler Schaltungen: mit 43 Tabellen und 18 Aufgaben mit Lösungen
    von Hans Wojtkowiak
    Stuttgart: Teubner, 1988
    Monographie, Gedruckte Ressource
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Reliability by design: CAE techniques for electronic components and systems
    A. C. Brombacher
    Chichester [u.a.]: Wiley, 1992
    Monographie, Gedruckte Ressource
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Analog circuit design: low noise, low power, low voltage ; mixed mode design with CAD tools ; voltage, current and time references ; [this papers are the revised versions of the papers presented at the Workshop on Advances in Analog Circuit Design, which was held in Villach, Austria, 26 - 28 April 1995]
    edited by Johan H. Huijsing ..
    Boston [u.a.]: Kluwer, 1996
    Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Design to test: a definitive guide for electronic design, manufacture, and service
    Jon Turino
    2. ed.. - New York [u.a.]: Van Nostrand Reinhold, 1990
    Monographie, Gedruckte Ressource
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Prüfbarkeit elektronischer Schaltungen: Grundlagen, Verknüpfungen und Anwendung von CAD und CAT ; mit 20 Tabellen
    Manfred Weyerer ; Gerald Goldemund
    München [u.a.]: Hanser, 1988
    Monographie, Gedruckte Ressource
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    FEHLERDIAGNOSE DIGITALER SCHALTUNG: EINE EINF., MIT ZAHLR. TAF. U. 45. BEISP
    VON WINFRIED GOERKE
    STUTTGART: TEUBNER, 1973
    Monographie, Gedruckte Ressource
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Zuverlässigkeit elektronischer Bauelemente: mit 9 Tabellen
    Wilhelm Ackmann
    Heidelberg: Hüthig, 1976
    Monographie, Gedruckte Ressource
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Proceedings
    ETC 91, 2nd European Test Conference, Munich, April 10 - 12, 1991
    Berlin [u.a.]: VDE-Verl, 1991
    Monographie, Konferenzschrift, Gedruckte Ressource
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Conference proceedings / ESREF 92, 3rd European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis, Schwäbisch Gmünd, Germany, 5 - 8 October 1992
    Conference organizers: ITG, Informationstechnische Gesellschaft im VDE in co-operation with ... [Chairman: W. H. Gerling]
    Berlin [u.a.]: VDE-Verl, 1992
    Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Reliability and degradation of III-V optical devices
    Osamu Ueda
    Boston [u.a.]: Artech House, 1996
    Monographie, Gedruckte Ressource
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Reliability and failure of electronic materials and devices
    Milton Ohring
    San Diego [u.a.]: Academic Press, 1998
    Monographie, Gedruckte Ressource
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Sampling inspection tables: single and double sampling
    Harold F. Dodge and Harry G. Romig
    2. ed., rev. and expanded. - New York, NY [u.a.]: Wiley, 1959
    Monographie, Gedruckte Ressource
  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    The boundary scan handbook
    by Kenneth P. Parker
    Boston [u.a.]: Kluwer, 1992
    Monographie, Gedruckte Ressource
  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Qualität und Zuverlässigkeit elektronischer Bauelemente und Systeme: mit 24 Tabellen
    von Günter Käs
    München [u.a.]: Oldenbourg, 1983
    Monographie, Gedruckte Ressource
  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Reliability, yield, and stress burn-in: a unified approach for microelectronics systems manufacturing & software development
    by Way Kuo, Wei-Ting Kary Chien, Taeho Kim
    Boston, Mass. [u.a.]: Kluwer, 1998
    Monographie, Gedruckte Ressource
  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Verfahren zur Testmustererzeugung für statische CMOS-Schaltnetze
    Schäfer, Manfred
    Als Ms. gedr.. - Düsseldorf: VDI-Verl, 1989
    Monographie, Hochschulschrift, Gedruckte Ressource

Artikel & mehr

xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -