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  1. Detailansicht für Treffer 1 öffnen
    The Avogadro Constant: Origin of a Natural Constant
    by Torsten Schmiermund
    1st ed. 2022. - Wiesbaden: Springer Fachmedien Wiesbaden, Imprint: Springer, 2022
    Online Monographie, Elektronische Ressource
    Zugriff:
    Springer Chemistry & Materials Science 2022 (Volltext)
    Volltext
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    Mono-cycle photonics and optical scanning tunneling microscopy: route to femtosecond Ångstrom technology
    M. Yamashita ... (eds.)
    Berlin [u.a.]: Springer, 2005
    Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Untersuchung der Wachstumsmechanismen von mikrokristallinem Silicium mittels Rastertunnelmikroskopie und Rasterkraftmikroskopie
    Christoph Roß
    Jülich: Forschungszentrum Jülich GmbH, Zentralbibliothek, 2000
    Monographie, Hochschulschrift, Gedruckte Ressource
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Electron holography
    Akira Tonomura
    2., enl. ed.. - Berlin [u.a.]: Springer, 1999
    Monographie, Gedruckte Ressource
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    High resolution electron microscopy for materials science
    D. Shindo ; K. Hiraga
    Tokyo [u.a.]: Springer, 1998
    Monographie, Gedruckte Ressource
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Transmission electron microscopy: physics of image formation and microanalysis
    Ludwig Reimer
    4. ed.. - Berlin [u.a.]: Springer, 1997
    Monographie, Gedruckte Ressource
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Ellipsometrie und Rasterkraftmikroskopie: Untersuchung der Nukleation und des Wachstums von Si-Dünnschichten
    vorgelegt von Harald Wanka
    1997
    Monographie, Hochschulschrift, Gedruckte Ressource
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Physikalische Grundlagen der Elektronenmikroskopie
    von Helmut Alexander
    Stuttgart: Teubner, 1997
    Monographie, Lehrbuch, Gedruckte Ressource
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    In situ scanning electron microscopy in materials research
    ed. by Klaus Wetzig ..
    1. ed.. - Berlin: Akad.-Verl, 1995
    Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Scanning tunneling microscopy and its application
    Chunli Bai
    Shanghai: Shanghai Scientific & Technical Publ. [u.a.], 1995
    Monographie, Gedruckte Ressource
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Scanning force microscopy: with applications to electric, magnetic, and atomic forces
    Dror Sarid
    Rev. ed.. - New York [u.a.]: Oxford Univ. Press, 1994
    Monographie, Gedruckte Ressource
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Principles of electron optics, 3. Wave optics
    by P. W. Hawkes and E. Kasper
    London [u.a.]: Acad. Press, 1994
    Monographie, Teil eines Werkes, Gedruckte Ressource
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Scanning tunneling microscopy
    ed. by Joseph A. Stroscio ..
    San Diego [u.a.]: Acad. Press, 1993
    Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Scanning tunneling microscopy
    ed. by H. Neddermeyer
    Dordrecht [u.a.]: Kluwer Academic Publ, 1993
    Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Electron holography
    A. Tonomura
    Berlin [u.a.]: Springer, 1993
    Monographie, Gedruckte Ressource
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Nanosources and manipulation of atoms under high fields and temperatures: applications ; [proceedings of the NATO Advanced Research Workshop on Manipulations of Atoms Under High Fields and Temperatures: Applications, Lyon, France, 6 - 10 July 1992]
    ed. by Vu Thien Binh ..
    Dordrecht [u.a.]: Kluwer, 1993
    Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Elektronenmikroskopie: erweiterte Einsatzmöglichleiten durch neue Entwicklungen und spezielle Abbildungs- und Präparationsmethoden
    Fritz Grasenick ..
    Ehningen bei Böblingen: Expert-Verl, 1991
    Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Raster-Tunnel-Mikroskopie
    Claus Hamann ; Michael Hietschold
    Berlin: Akad.-Verl, 1991
    Monographie, Gedruckte Ressource
  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    SEM microcharacterization of semiconductors
    ed. by D. B. Holt ..
    London [u.a.]: Academic Pr, 1989
    Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Transmission electron microscopy: physics of image formation and microanalysis
    Reimer, Ludwig (1928-)
    2. ed.. - Berlin [u.a.]: Springer, 1989
    Monographie, Gedruckte Ressource

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