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  1. Detailansicht für Treffer 41 öffnen
    Einführung in die Elektronenmikroskopie: Verfahren zur Untersuchung von Werkstoffen und anderen Festkörpern
    Manfred von Heimendahl
    Braunschweig: Vieweg, 1970
    Monographie, Einführung, Gedruckte Ressource
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    Maintaining and monitoring the transmission electron microscope
    S. K. Chapman
    Oxford [u.a.]: Oxford Univ. Pr, 1986
    Monographie, Gedruckte Ressource
  3. Detailansicht für Treffer 43 öffnen
    Thin foil preparation for electron microscopy
    P. J. Goodhew
    Amsterdam [u.a.]: Elsevier, 1985
    Monographie, Gedruckte Ressource
  4. Detailansicht für Treffer 44 öffnen
    Electron holography
    Akira Tonomura
    2., enl. ed.. - Berlin [u.a.]: Springer, 1999
    Monographie, Gedruckte Ressource
  5. Detailansicht für Treffer 45 öffnen
    Electron microscopy and analysis, 1987. Held at UMIST, 8. - 9. Sept. 1987 (EMAG 87): proceedings of the Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference
    Institute of Physics, London, Electron Microscopy and Analysis Group
    London: Institute of Physics, 1987
    Monographie, Teil eines Werkes, Gedruckte Ressource
  6. Detailansicht für Treffer 46 öffnen
    The scanning electron microscope
    by C. W. Oatley
    Cambridge: Cambridge Univ. Pr
    Monographie, Schriftenreihe, Gedruckte Ressource
  7. Detailansicht für Treffer 47 öffnen
    Developments in electron microscopy and analysis, 1975. Held at the Univ. of Bristol, 8 - 11 Sept. 1975: proceedings of the Institute of Physics, Electron Microscopy and Analysis Group conference
    Institute of Physics, London, Electron Microscopy and Analysis Group
    Bristol: Inst. of Physics (1976) ; London [u.a.]: Acad. Press (1976), 1976; 1976
    Monographie, Teil eines Werkes, Gedruckte Ressource
  8. Detailansicht für Treffer 48 öffnen
    Diffraction and imaging techniques in material science, 1. ELECTRON MICROSCOPY. 1979
    ed. S. Amelinckx ..
    Amsterdam [u.a.]: NORTH-HOLLAND PUBL. CO
    Sammelwerk, Teil eines Werkes, keine Angabe
  9. Detailansicht für Treffer 49 öffnen
    Diffraction and imaging techniques in material science, 2. IMAGING AND DIFFRACTION TECHNIQUES. 1979
    ed. S. Amelinckx ..
    Amsterdam [u.a.]: NORTH-HOLLAND PUBL. CO
    Sammelwerk, Teil eines Werkes, keine Angabe
  10. Detailansicht für Treffer 50 öffnen
    Superconducting electron optic devices
    I. Dietrich
    New York [u.a.]: Plenum Press, 1976
    Monographie, Gedruckte Ressource
  11. Detailansicht für Treffer 51 öffnen
    Transmission electron microscopy of materials
    Gareth Thomas ; Michael J. Goringe
    CHICHESTER (U.A.): Wiley, 1979
    Monographie, Gedruckte Ressource
  12. Detailansicht für Treffer 52 öffnen
    Bildinterpretation in der Hochauflösungs-Elektronenmikroskopie: numerische u. optische Verfahren zur Interpretation elektronenmikroskopischer Hochauflösungsabbildungen kristalliner Objekte
    HRSG.: REINALD HILLEBRAND
    Berlin: Akademie-Verlag, 1984
    Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  13. Detailansicht für Treffer 53 öffnen
    Nanosources and manipulation of atoms under high fields and temperatures: applications ; [proceedings of the NATO Advanced Research Workshop on Manipulations of Atoms Under High Fields and Temperatures: Applications, Lyon, France, 6 - 10 July 1992]
    ed. by Vu Thien Binh ..
    Dordrecht [u.a.]: Kluwer, 1993
    Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  14. Detailansicht für Treffer 54 öffnen
    Evaluation of advanced semiconductor materials by electron microscopy: [proceedings of a NATO Advanced Research Workshop on the Evaluation of Advanced Semiconductor Materials by Electron Microscopy, held September 12 - 17, 1988, in Bristol, United Kingdom]
    ed. by David Cherns
    New York [u.a.]: Plenum Press, 1989
    Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  15. Detailansicht für Treffer 55 öffnen
    Electron microscopy of materials: symposium held Nov. 1983 in Boston, Mass., U.S.A
    [Symposium on the 'Electron Microscopy of Materials']. Ed.: William Krakow..
    New York [u.a.]: North-Holland, 1984
    Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  16. Detailansicht für Treffer 56 öffnen
    Quantitative scanning electron microscopy
    ed. by D. B. Holt ..
    London [u.a.]: Academic Press, 1974
    Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  17. Detailansicht für Treffer 57 öffnen
    Untersuchung der Wachstumsmechanismen von mikrokristallinem Silicium mittels Rastertunnelmikroskopie und Rasterkraftmikroskopie
    Christoph Roß
    Jülich: Forschungszentrum Jülich GmbH, Zentralbibliothek, 2000
    Monographie, Hochschulschrift, Gedruckte Ressource
  18. Detailansicht für Treffer 58 öffnen
    Electron microscopy and analysis: proceedings of the Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference
    Institute of Physics, London, Electron Microscopy and Analysis Group
    London: Institute of Physics, 1971-
    Zeitschrift, Konferenzschrift, Gedruckte Ressource
  19. Detailansicht für Treffer 59 öffnen
    Principles of electron optics, 3. Wave optics
    by P. W. Hawkes and E. Kasper
    London [u.a.]: Acad. Press, 1994
    Monographie, Teil eines Werkes, Gedruckte Ressource
  20. Detailansicht für Treffer 60 öffnen
    Electron microscopy and analysis, 1971. PROCEEDINGS OF THE 25. ANNIVERSARY MEETING OF THE ELECTRON MICROSCOPY AND ANALYSIS GROUP OF THE INSTITUTE OF PHYSICS : HELD AT CAMBRIDGE, ENGLAND, 29 JUNE - 1 JULY 1971: proceedings of the Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference
    Institute of Physics, London, Electron Microscopy and Analysis Group
    London: Institute of Physics, 1971
    Monographie, Teil eines Werkes, keine Angabe

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