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    Automatisierte Messsysteme: Tagung, Fellbach, 5. u. 6. Nov. 1985
    VDI/VDE-Ges. Mess- u. Regelungstechnik
    Düsseldorf: VDI-Verl, 1985
    Monographie, Konferenzschrift, Gedruckte Ressource
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    Industrieroboter messen und prüfen: Aussprachetag Köln, 12. und 13. November 1991
    VDI/VDE-Gesellschaft Mess- und Automatisierungstechnik. Wissenschaftlicher Tagungsleiter: R.-J. Ahlers
    Düsseldorf: VDI-Verl, 1991
    Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
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    3rd International IMEKO Symposium on Dimensional Metrology in Production and Quality Control: ISMQC ; September 20 - 22, 1989, Aachen (FRG)
    ed.: T. Pfeifer
    Düsseldorf: VDI-Verl, 1989
    Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
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    Automatic optical inspection: 15 - 18 April 1986, Innsbruck, Austria
    [Conference 654, Automatic Optical Inspection, was one of 11 technical conferences at the 3. International Symposium on Optical and Optoelectronic Applied Sciences and Engineering, 14 - 18 April 1986, Kongreßhaus Innsbruck, Innsbruck, Austria]. Lionel R. Baker, ... chairs / eds
    Bellingham, Wash., 1986
    Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    New horizons in automatic testing: Nov. 1-3, Hyatt Regency / Tarrant County Convention Center, Fort Worth, Tex
    AUTOTESTCON '83. Spons. by IEEE Fort Worth Section ..
    New York: IEEE, 1983
    Monographie, Konferenzschrift, Gedruckte Ressource
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    Fertigungsmeßtechnik: Tagung
    VDI/VDE-Gesellschaft Meß- und Regelungstechnik, GMR
    Düsseldorf: VDI-Verl, 1976-1986
    Zeitschrift, Konferenzschrift, Gedruckte Ressource
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    International conference on automatic inspection and measurement: August 20 - 21, 1985, San Diego, California
    Richard A. Brook ..., chairmen / eds
    Bellingham, Wash., 1985
    Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
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    Automated inspection and measurement: 28 - 30 Oct. 1986, Cambridge, Mass
    [the 2. SPIE Conference on Automated Inspection and Measurement was held on October 28 to 30, 1986, Cambridge, Massachusetts as part of the SPIE Cambridge Symposium on Optical and Optoelectronic Engneering]. Michael J. W. Chen ... ed
    Bellingham, Wash., 1986
    Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Fertigungsmeßtechnik und Qualitätssicherung: Fachkongreß zur MICROTECNIC '90, 18. und 19. Oktober 1990
    VDI/VDE-Gesellschaft Meß- und Automatisierungstechnik
    Düsseldorf: VDI-Verl, 1990
    Monographie, Konferenzschrift, Gedruckte Ressource
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    ECO 1: 19 - 20 Sept. 1988, Hamburg, Federal Republic of Germany
    ECO, 1, 1988, Hamburg
    Bellingham, Wash.: Soc. of Photo-Optical Instrumentation Engineers, 1989
    Monographie, Konferenzschrift, Gedruckte Ressource
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    PROCEEDINGS OF THE CONFERENCE ON ADVANCES IN AUTOMATIC TESTING TECHNOLOGY: TUESDAY, 15 TO THURSDAY, 17 APRIL 1975, UNIV. OF BIRMINGHAM
    Conference on Advances in Automatic Testing Technology, 1975, Birmingham
    LONDON, 1975
    Monographie, Konferenzschrift, Gedruckte Ressource
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Diagnoseverfahren in der Automatisierungstechnik: GMA-Aussprachetag Baden-Baden, 17. September 1990
    VDI/VDE-Gesellschaft Meß- und Automatisierungstechnik
    Düsseldorf: VDI-Verl, 1990
    Monographie, Konferenzschrift, Gedruckte Ressource
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Messtechnik zur Sicherung der Qualität: Tagung Berlin 1981
    Verein Deutscher Ingenieure
    Als Ms. gedr.. - Düsseldorf: VDI-Verl, 1981
    Monographie, Konferenzschrift, Gedruckte Ressource
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Advancing test concepts and the user: proceedings
    Autotestcon '86, IEEE Internat. Automatic Testing Conference, San Antonio, Tx., Sept. 8 - 11, 1986
    New York: Inst. of Electr. and Electronics Engineers, 1986
    Monographie, Konferenzschrift, Gedruckte Ressource
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Futuretest: symposium proceedings
    Autotestcon '88, IEEE International Automatic Testing Conference, Minneapolis, Minnesota. Sponsored by the Institute of Electrical and Electronics Engineers ..
    New York: Inst. of Electr. and Electronics Engineers, 1988
    Monographie, Konferenzschrift, Gedruckte Ressource
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    ECO 3: proceedings ; 12 - 13 March 1990, The Hague, The Netherlands
    the congress of EPS - European Physical Society ..
    Bellingham, Wash.: Soc. of Photo-Optical Instrumentation Engineers, 1990
    Monographie, Konferenzschrift, Gedruckte Ressource
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    International Conference on New Developments in Automatic Testing: 30 Nov. - 2. Dec. 1977 ; venue: Metropole Convention Centre, Brighton
    organised by: Control and Automation and Electronics Divisions of the Institution of Electr. Engineers
    London: Institution of Electr. Engineers, 1977
    Monographie, Konferenzschrift, Gedruckte Ressource
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    Conference, Exhibition and Management Seminar on the Automation of Testing: 20 - 22 Sept. 1972. Venue: Univ. of Keele, Stoke-on-Trent, Staffordshire
    organised by: Control and Automation Div. of the Institution of Electr. Engineers ..
    [London]: Institution of Electr. Engineers, 1972
    Monographie, Konferenzschrift, Gedruckte Ressource
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    Computer integrated quality system in CIM systems: proceedings of the IFIP TC 5/W.G. 5.3 Working Conference on Computer Integrated Quality System in CIM Systems, Belgrade, Yugoslavia, 20 - 23 June, 1989
    ed. by V. R. Milačić ..
    Amsterdam [u.a.]: North-Holland, 1990
    Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Autotestcon / Institute of Electrical and Electronics Engineers
    Autotestcon
    New York, NY: IIIE, 1976-1989
    Zeitschrift, Konferenzschrift, Gedruckte Ressource

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