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  1. Detailansicht für Treffer 41 öffnen
    Recent advances in industrial inspection, 1: 8 - 13 July 1990, San Diego, California
    C. P. Grover, chair/ed
    Bellingham, Wash.: Soc. of Photo-Optical Instrumentation Engineers, 1990
    Sammelwerk, Teil eines Werkes, keine Angabe
  2. Detailansicht für Treffer 42 öffnen
    Recent advances in industrial inspection, 2: 8 - 13 July 1990, San Diego, California
    C. P. Grover, chair/ed
    Bellingham, Wash.: Soc. of Photo-Optical Instrumentation Engineers, 1990
    Sammelwerk, Teil eines Werkes, keine Angabe
  3. Detailansicht für Treffer 43 öffnen
    ECO 3: proceedings ; 12 - 13 March 1990, The Hague, The Netherlands
    the congress of EPS - European Physical Society ..
    Bellingham, Wash.: Soc. of Photo-Optical Instrumentation Engineers, 1990
    Monographie, Konferenzschrift, Gedruckte Ressource
  4. Detailansicht für Treffer 44 öffnen
    PROCESS INSTRUMENTATION MANIFOLDS: THEIR SELECTION AND USE ; A HANDBOOK
    BY JOHN E. HEWSON
    RESEARCH TRIANGLE PARK, N.C.: INSTRUMENT SOC. OF AMERICA, 1981
    Monographie, Gedruckte Ressource
  5. Detailansicht für Treffer 45 öffnen
    Proceedings Autotestcon '84: 5-7 Nov. 1984, Sheraton-Washington Hotel, Washington, DC
    Autotestcon, 1984, Washington, DC
    Piscataway, N.J.: Inst. of electr. and electronics engineers, 1984
    Monographie, Gedruckte Ressource
  6. Detailansicht für Treffer 46 öffnen
    International Conference on New Developments in Automatic Testing: 30 Nov. - 2. Dec. 1977 ; venue: Metropole Convention Centre, Brighton
    organised by: Control and Automation and Electronics Divisions of the Institution of Electr. Engineers
    London: Institution of Electr. Engineers, 1977
    Monographie, Konferenzschrift, Gedruckte Ressource
  7. Detailansicht für Treffer 47 öffnen
    Conference, Exhibition and Management Seminar on the Automation of Testing: 20 - 22 Sept. 1972. Venue: Univ. of Keele, Stoke-on-Trent, Staffordshire
    organised by: Control and Automation Div. of the Institution of Electr. Engineers ..
    [London]: Institution of Electr. Engineers, 1972
    Monographie, Konferenzschrift, Gedruckte Ressource
  8. Detailansicht für Treffer 48 öffnen
    Automatic testing: systems and applications
    BY ROY KNOWLES
    LONDON ETC.: McGraw-Hill, 1976
    Monographie, Gedruckte Ressource
  9. Detailansicht für Treffer 49 öffnen
    Betriebsanalysenmeßtechnik - zur Qualitätssicherung und im Umweltschutz
    Arbeitsgemeinschaft d. BDE-Bezirksvereins Frankfurt a.M. vom 24. Nov. - 15. Dez. 1980. Hrsg. von K. Fleck
    Berlin: VDE-Verl, 1981
    Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  10. Detailansicht für Treffer 50 öffnen
    CONFERENCE RECORD
    AUTOTESTCON '78, INTERNAT. AUTOMATIC TESTING CONFERENCE. SPONSORED BY THE INST. OF ELECTR. AND ELECTRONICS ENGINEERS
    NEW YORK, 1978
    Monographie, Gedruckte Ressource
  11. Detailansicht für Treffer 51 öffnen
    Computer integrated quality system in CIM systems: proceedings of the IFIP TC 5/W.G. 5.3 Working Conference on Computer Integrated Quality System in CIM Systems, Belgrade, Yugoslavia, 20 - 23 June, 1989
    ed. by V. R. Milačić ..
    Amsterdam [u.a.]: North-Holland, 1990
    Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  12. Detailansicht für Treffer 52 öffnen
    Autotestcon / Institute of Electrical and Electronics Engineers
    Autotestcon
    New York, NY: IIIE, 1976-1989
    Zeitschrift, Konferenzschrift, Gedruckte Ressource
  13. Detailansicht für Treffer 53 öffnen
    Die Grundlagen der mechanischen Genauigkeit
    Moore, Wayne R.
    Stuttgart: Techn. Verl. Großmann, 1985
    Monographie, Gedruckte Ressource
  14. Detailansicht für Treffer 54 öffnen
    Commonality, testability, availability: the keys to cost reduction
    Autotestcon '82, Oct. 12 - 14, IEEE Internat. Automatic Testing Conference, Dayton Convention Center, Dayton, Ohio
    New York: Inst. of Electr. and Electronics Engineers, 1982
    Monographie, Konferenzschrift, Mikroform
  15. Detailansicht für Treffer 55 öffnen
    Optical techniques for industrial inspection: 4 - 6 June, 1986, Québec City, Canada
    Paolo G. Cielo chair / ed
    Bellingham, Wash., 1986
    Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  16. Detailansicht für Treffer 56 öffnen
    Automatic test systems - racing with technology: proceedings
    AUTOTESTCON '85, Long Island, N.Y., Oct. 22 - 24, 1985, IEEE Internat. Automatic Testing Conference, Long Island Marriott & Nassau Veterans Memorial Coliseum, Uniondale, N.Y. Sponsored by: The Inst. of Electr. and Electronics Engineers ..
    Piscataway, N.J.: Inst. of Electr. and Electronics Engineers, 1985
    Monographie, Konferenzschrift, Gedruckte Ressource
  17. Detailansicht für Treffer 57 öffnen
    Korrelationstechnik, ein neuer Zweig der Betriebsmeßtechnik
    Autoren: Wolfgang Wehrmann ..
    2. Aufl.. - Grafenau/Württ.: Expert-Verl, 1980
    Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  18. Detailansicht für Treffer 58 öffnen
    INDUSTRIAL INSTRUMENTATION FUNDAMENTALS
    AUSTIN E. FRIBANCE
    NEW YORK, NY (U. A.): MCGRAW-HILL, 1962
    Monographie, Gedruckte Ressource

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