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  1. Detailansicht für Treffer 1 öffnen
    Analyse der elektrischen Eigenschaften von Versetzungen in Silicium durch elektronenstrahlinduzierte Methoden: Einfluß einer Metalldekoration
    vorgelegt von Klaus Knobloch
    1997
    Monographie, Hochschulschrift, Gedruckte Ressource
  2. Detailansicht für Treffer 2 öffnen
    Elektrische Charakterisierungen und Zuverlässigkeitsuntersuchungen sehr dünner Oxid-, Nitrid-Dielektrika
    vorgelegt von Budy Yuwono
    2001
    Monographie, Hochschulschrift, Gedruckte Ressource
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Nanocharakterisierung von Halbleitermaterialien mittels kontaktloser Meßverfahren im Rastersondenmikroskop
    von Paul Koschinski
    1996
    Monographie, Hochschulschrift, Gedruckte Ressource
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Optische Messungen des zeitlichen Verlaufs der Temperaturen bei Laserbestrahlung von Silizium mit intensiven Nanosekundenimpulsen
    Wartmann, Gerd
    1984
    Monographie, Hochschulschrift, Gedruckte Ressource
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Untersuchung zur Erzeugung hochohmiger Bauelement-Bereiche in Silizium durch Ionenimplantation
    von Arnold Harnau
    1995
    Monographie, Hochschulschrift, Gedruckte Ressource
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Ellipsometrie und Rasterkraftmikroskopie: Untersuchung der Nukleation und des Wachstums von Si-Dünnschichten
    vorgelegt von Harald Wanka
    1997
    Monographie, Hochschulschrift, Gedruckte Ressource
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Darstellung und Eigenschaften von Si-Schichten auf polykristallinen Si-Substraten abgeschieden mittels Flüssigphasenepitaxie
    vorgelegt von Barbara Steiner
    1996
    Monographie, Hochschulschrift, Gedruckte Ressource
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Entwicklung einer Methode zur Bestimmung der Generationslebensdauer in amorphem Silizium
    vorgelegt von Steffen Löffler
    1995
    Monographie, Hochschulschrift, Gedruckte Ressource
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Rigorous simulation of light propagation in semiconductor devices
    presented by Thomas Ottmar Koerner
    [Mikrofiche-Ausg.]. - 1999
    Monographie, Hochschulschrift, Mikroform
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Herstellung und Charakterisierung von PECVD-abgeschiedenem mikrokristallinem Silizium
    von Günter Grabosch
    2000
    Monographie, Hochschulschrift, Gedruckte Ressource
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Lumineszierende Materialien für die Silizium-Technologie
    von Dirk Rüter
    1997
    Monographie, Hochschulschrift, Gedruckte Ressource
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Untersuchung tiefer Störstellen an Grenzflächen in GaAs-Bauelementen unter Einsatz von Photokapazität- und Photo-Feldeffekttransistor-Messungen
    Tegude, Franz-Josef
    1983
    Monographie, Hochschulschrift, Gedruckte Ressource
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Wechselwirkung von Morphologie und Wasserstoff in passivierendem amorphem Silizium
    Sebastian Gerke
    1. Auflage. - München: Hut, 2015
    Monographie, Hochschulschrift, Gedruckte Ressource

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