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    Electrical characterization of silicon-on-insulator materials and devices
    by Sorin Cristoloveanu and Sheng S. Li
    Boston [u.a.]: Kluwer, 1995
    Monographie, Gedruckte Ressource
  2. Detailansicht für Treffer 2 öffnen
    Proceedings of the Symposium on Diagnostic Techniques for Semiconductor Materials and Devices
    Electronics Divisions. Eds. D. K. Schroder ..
    Pennington, NJ: Electrochemical Society, 1994
    Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Semiconductor characterization: present status and future needs
    ed.: W. M. Bullis ..
    Woodbury, NY: AIP Press, 1996
    Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Measurement of high speed signals in solid state devices
    vol. ed. Robert B. Marcus
    Boston [u.a.]: Acad. Press, 1990
    Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Der Selbsterregungs-Mechanismus von Biegeeigenschwingungen der Rotoren von Käfigläufer-Asynchronmaschinen
    von Henry Foster
    2001
    Monographie, Hochschulschrift, Gedruckte Ressource
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Spectroscopic characterization techniques for semiconductor technology, 2. Jan. 21 - 22, 1985, Los Angeles, Calif: conference
    SPIE, The International Society for Optical Engineering
    Bellingham, Wash.: SPIE, 1985
    Konferenzschrift, Monographie, Teil eines Werkes, keine Angabe
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Photoacoustic and photothermal phenomena, [1]. Proceedings of the 5th international topical meeting, Heidelberg, Fed. Rep. of Germany, July 27 - 30, 1987
    Berlin [u.a.]: Springer, 1988
    Konferenzschrift, Monographie, Teil eines Werkes, Gedruckte Ressource
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Characterization methods for submicron MOSFETs
    edited by Hisham Haddara
    Boston [u.a.]: Kluwer, 1995
    Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    International Conference on Modulation Spectroscopy: 19 - 21 March 1990, San Diego, California
    sponsored by SPIE - The International Society for Optical Engineering. Fred H. Pollak ..., chairs/ed
    Bellingham, Wash., 1990
    Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Characterization of semiconductor materials
    Philip F. Kane ; Graydon B. Larrabee
    New York [u.a.]: McGraw-Hill, 1970
    Monographie, Gedruckte Ressource
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    SEM microcharacterization of semiconductors
    ed. by D. B. Holt ..
    London [u.a.]: Academic Pr, 1989
    Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Electromagnetic nondestructive evaluation, 5. [A selection of papers presented at the Sixth International Workshop on Electromagnetic Nondestructive Evaluation (ENDE), held in Budapest, Hungary, from 28th to 30th June] / ed. by J. Pávó ..
    Amsterdam [u.a.]: IOS Pr, 2001
    Konferenzschrift, Monographie, Teil eines Werkes, Gedruckte Ressource
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Optical characterization of epitaxial semiconductor layers
    Günther Bauer ... (eds.)
    Berlin [u.a.]: Springer, 1996
    Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Photons and local probes: [proceedings of the NATO Advanced Research Workshop on Photons and Local Probes, Reichenau, Germany, September 11 - 17, 1994]
    ed. by Othmar Marti ..
    Dordrecht [u.a.]: Kluwer Acad. Publ, 1995
    Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Acoustic, thermal wave and optical characterization of materials: proceedings of Symposium C on Acoustic, Thermal Wave and Optical Characterization of Materials of the 1989 E-MRS Conference Strasbourg, France, May 30 - June 2, 1989
    ed. by G. M. Crean ..
    Amsterdam [u.a.]: North-Holland, 1990
    Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Electromagnetic nondestructive evaluation, 2. [A selection of papers presented at the Third International Workshop on Electromagnetic Nondestructive Evaluation )E'NDE, held from 14th to 16th September, 1997 at Reggio Calabria, Italy] / ed. by R. Albanese ..
    Amsterdam [u.a.]: IOS Pr, 1998
    Konferenzschrift, Monographie, Teil eines Werkes, Gedruckte Ressource
  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Electromagnetic nondestructive evaluation, 4. [A selection of papers presented at the Fifth International Workshop on Electromagnetic Nondestructive Evaluation, held in Des Moines, Iowa, U.S.A., from August 1 through 3, 1999] / ed. by S. S. Udpa ..
    Amsterdam [u.a.]: IOS Pr, 2000
    Konferenzschrift, Monographie, Teil eines Werkes, Gedruckte Ressource
  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Electromagnetic nondestructive evaluation, 3. [The E'NDE '98 Workshop] / ed. by D. Lesselier ..
    Amsterdam [u.a.]: IOS Pr, 1999
    Konferenzschrift, Monographie, Teil eines Werkes, Gedruckte Ressource
  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Advanced processing and characterization of semiconductors, 3. 22 - 24 Jan. 1986, Los Angeles, Calif: annual conference
    SPIE, The International Society for Optical Engineering
    Bellingham, Wash.: SPIE, 1986
    Konferenzschrift, Monographie, Teil eines Werkes, keine Angabe
  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Photoacoustic and photothermal phenomena, 2. Proceedings of the 6. International Topical Meeting, Baltimore, Maryland, July 31 - August 3, 1989
    Berlin [u.a.]: Springer, 1990
    Aufsatzsammlung, Konferenzschrift, Monographie, Teil eines Werkes, Gedruckte Ressource

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