Zum Hauptinhalt springen
UB Hagen

Suchergebnisse

UB Katalog
15 Treffer

Suchmaske

Suchtipp für den Bereich UB Katalog: Wörter werden automatisch mit UND verknüpft. Eine ODER-Verknüpfung erreicht man mit dem Zeichen "|", eine NICHT-Verknüpfung mit einem "-" (Minus) vor einem Wort. Anführungszeichen ermöglichen eine Phrasensuche.
Beispiele: (burg | schloss) -mittelalter, "berufliche bildung"

Suchergebnisse einschränken oder erweitern

Aktive Suchfilter

Erscheinungszeitraum

Zugang

Literaturtyp

Schlagwort

Sprache

Form

Person

15 Treffer

Sortierung: 
  1. Detailansicht für Treffer 1 öffnen
    Semiconductor characterization: present status and future needs
    ed.: W. M. Bullis ..
    Woodbury, NY: AIP Press, 1996
    Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  2. Detailansicht für Treffer 2 öffnen
    Modern optical characterization techniques for semiconductors and semiconductor devices: 26 - 27 March 1987, Bay Point, Florida
    O. J. Glembocki ... Chairs/ed
    Bellingham, Wash.: SPIE - the Internat. Soc. for Opt. Engineering, 1987
    Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Optical characterization of semiconductors: infrared, raman, and photoluminescence spectroscopy
    Sidney Perkowitz
    London [u.a.]: Academic Press, 1993
    Monographie, Gedruckte Ressource
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Halbleiterprüfung: Licht- und Rasterelektronenmikroskopie ; mit 12 Tabellen
    Wolfgang Schäfer ; Georg Terlecki
    Heidelberg: Hüthig, 1986
    Monographie, Gedruckte Ressource
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Growth and characterisation of semiconductors: papers contributing to a short course organised by the Departments of Materials and Physics with the Continuing Education Centre at Imperial College, in association with ..
    ed. by R. A. Stradling ..
    Repr. with corr.. - Bristol [u.a.]: Hilger, 1991
    Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Ultrafast spectroscopy of semiconductors and semiconductor nanostructures
    Jagdeep Shah
    Berlin [u.a.]: Springer [u.a.], 1996
    Monographie, Gedruckte Ressource
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Semiconductor measurements and instrumentation
    W. R. Runyan
    International student edition. - Tokyo [u.a.]: McGraw-Hill Kogakusha, 1975
    Monographie, Gedruckte Ressource
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Semiconductor material and device characterization
    Schroder, Dieter K.
    New York [u.a.]: Wiley, 1990
    Monographie, Gedruckte Ressource
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Evaluation of advanced semiconductor materials by electron microscopy: [proceedings of a NATO Advanced Research Workshop on the Evaluation of Advanced Semiconductor Materials by Electron Microscopy, held September 12 - 17, 1988, in Bristol, United Kingdom]
    ed. by David Cherns
    New York [u.a.]: Plenum Press, 1989
    Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Ultrafast spectroscopy of semiconductors and semiconductor nanostructures
    Jagdeep Shah
    2., enl. ed.. - Berlin [u.a.]: Springer [u.a.], 1999
    Monographie, Gedruckte Ressource
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    The role of microscopy in semiconductor failure analysis
    B. P. Richards and P. K. Footner
    Oxford: Oxford Univ. Press [u.a.], 1992
    Monographie, Gedruckte Ressource
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Photoacoustic and thermal wave phenomena in semiconductors
    ed. by Andreas Mandelis
    New York [u.a.]: North-Holland [Publ. Co.], 1987
    Aufsatzsammlung, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Spectroscopy of semiconductor microstructures: [proceedings of a NATO Advanced Research Workshop on Spectroscopy of Semiconductor Microstructures held May 9 - 13, 1989, in Venice, Italy]
    ed. by Gerhard Fasol ..
    New York [u.a.]: Plenum Press, 1989
    Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Semiconductor measurements and instrumentation
    W. R. Runyan and T. J. Shaffner
    2. ed.. - New York [u.a.]: McGraw-Hill, 1997
    Monographie, Gedruckte Ressource
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Nondestructive evaluation of semiconductor materials and devices: lectures pres. at the NATO Advanced Study Institute on Nondestructive Evaluation of Semiconductor Materials and Devices, held at the Villa Tuscolano, Italy, Sept. 19-29, 1978
    Zemel, Jay N.
    New York, NY: Plenum Press, 1979
    Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource

Artikel & mehr

xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -