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57 Treffer

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  1. Detailansicht für Treffer 41 öffnen
    Growth and characterisation of semiconductors: papers contributing to a short course organised by the Departments of Materials and Physics with the Continuing Education Centre at Imperial College, in association with ..
    ed. by R. A. Stradling ..
    Repr. with corr.. - Bristol [u.a.]: Hilger, 1991
    Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  2. Detailansicht für Treffer 42 öffnen
    Ultrafast spectroscopy of semiconductors and semiconductor nanostructures
    Jagdeep Shah
    Berlin [u.a.]: Springer [u.a.], 1996
    Monographie, Gedruckte Ressource
  3. Detailansicht für Treffer 43 öffnen
    Semiconductor measurements and instrumentation
    W. R. Runyan
    International student edition. - Tokyo [u.a.]: McGraw-Hill Kogakusha, 1975
    Monographie, Gedruckte Ressource
  4. Detailansicht für Treffer 44 öffnen
    Semiconductor material and device characterization
    Schroder, Dieter K.
    New York [u.a.]: Wiley, 1990
    Monographie, Gedruckte Ressource
  5. Detailansicht für Treffer 45 öffnen
    High energy and high dose ion implantation: proceedings of Symposium C on High Energy Ion Implantation and Symposium D on Ion Beam Synthesis of Compound and Elemental Layers of the 1991 E-MRS Spring Conference ; Strasbourg, France, May 28 - 31, 1991
    ed. by S. U. Campisano ..
    Amsterdam [u.a.]: North-Holland, 1992
    Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  6. Detailansicht für Treffer 46 öffnen
    Halbleitermeßtechnik
    Siegfried Pfüller
    HEIDELBERG (U.A.): Huethig, 1976
    Monographie, Gedruckte Ressource
  7. Detailansicht für Treffer 47 öffnen
    Evaluation of advanced semiconductor materials by electron microscopy: [proceedings of a NATO Advanced Research Workshop on the Evaluation of Advanced Semiconductor Materials by Electron Microscopy, held September 12 - 17, 1988, in Bristol, United Kingdom]
    ed. by David Cherns
    New York [u.a.]: Plenum Press, 1989
    Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  8. Detailansicht für Treffer 48 öffnen
    Ultrafast spectroscopy of semiconductors and semiconductor nanostructures
    Jagdeep Shah
    2., enl. ed.. - Berlin [u.a.]: Springer [u.a.], 1999
    Monographie, Gedruckte Ressource
  9. Detailansicht für Treffer 49 öffnen
    Hall effect devices: magnetic sensors and characterization of semiconductors
    R. S. Popović
    Bristol [u.a.]: Hilger, 1991
    Monographie, Gedruckte Ressource
  10. Detailansicht für Treffer 50 öffnen
    The role of microscopy in semiconductor failure analysis
    B. P. Richards and P. K. Footner
    Oxford: Oxford Univ. Press [u.a.], 1992
    Monographie, Gedruckte Ressource
  11. Detailansicht für Treffer 51 öffnen
    Praxis der Rasterelektronenmikroskopie und Mikrobereichsanalyse
    Peter Fritz Schmidt ..
    Renningen-Malmsheim: Expert-Verl, 1994
    Aufsatzsammlung, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  12. Detailansicht für Treffer 52 öffnen
    Photoacoustic and thermal wave phenomena in semiconductors
    ed. by Andreas Mandelis
    New York [u.a.]: North-Holland [Publ. Co.], 1987
    Aufsatzsammlung, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  13. Detailansicht für Treffer 53 öffnen
    Spectroscopy of semiconductor microstructures: [proceedings of a NATO Advanced Research Workshop on Spectroscopy of Semiconductor Microstructures held May 9 - 13, 1989, in Venice, Italy]
    ed. by Gerhard Fasol ..
    New York [u.a.]: Plenum Press, 1989
    Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  14. Detailansicht für Treffer 54 öffnen
    Analysis of microelectronic materials and devices
    ed. by M. Grasserbauer ..
    Chichester [u.a.]: Wiley, 1991
    Aufsatzsammlung, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  15. Detailansicht für Treffer 55 öffnen
    Semiconductor measurements and instrumentation
    W. R. Runyan and T. J. Shaffner
    2. ed.. - New York [u.a.]: McGraw-Hill, 1997
    Monographie, Gedruckte Ressource
  16. Detailansicht für Treffer 56 öffnen
    Nondestructive evaluation of semiconductor materials and devices: lectures pres. at the NATO Advanced Study Institute on Nondestructive Evaluation of Semiconductor Materials and Devices, held at the Villa Tuscolano, Italy, Sept. 19-29, 1978
    Zemel, Jay N.
    New York, NY: Plenum Press, 1979
    Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  17. Detailansicht für Treffer 57 öffnen
    Industrial applications of holography
    [International Symposium on Industrial Uses of Holography in Las Cruces, New Mexico]. Ed. by Jean Robillard ..
    New York [u.a.]: Oxford Univ. Pr, 1990
    Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource

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