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  1. Electrical and Electronic Measurement and Test Instrument Conference and Exposition. Institute of Electrical and Electronics Engineers
    New York, NY: [Verlag nicht ermittelbar], 1981-
    Zeitschrift, Konferenzschrift, Gedruckte Ressource
  2. Instrumentation and Measurement Technology Conference
    New York, NY: Inst. of Electr. and Electronics Engineers, 1986
    Zeitschrift, Konferenzschrift, Gedruckte Ressource
  3. Instrumentation and Measurement Technology Conference
    New York, NY: Inst. of Electr. and Electronics Engineers, 1987-1989
    Zeitschrift, Konferenzschrift, Gedruckte Ressource
  4. Instrumentation and Measurement Technology Conference
    [New York, NY]: IEEE, 1985
    Zeitschrift, Konferenzschrift, Gedruckte Ressource
  5. Instrumentation and Measurement Technology Conference
    New York, NY: Inst. of Electr. and Electronics Engineers, 1984
    Zeitschrift, Konferenzschrift, Gedruckte Ressource
  6. Conference on Precision Electromagnetic Measurements
    New York, NY: IEEE, 1968-
    Zeitschrift, Konferenzschrift, Gedruckte Ressource

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