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  1. Detailansicht für Treffer 1 öffnen
    Industrielle Qualitätssicherung in der Fertigung elektronischer und elektromechanischer Bauelemente
    Heinz Wucherer. [Enthält Beitr. der Autoren Wilhelm Ackmann ...]
    1. Aufl.. - Würzburg: Vogel, 1981
    Sammelwerk, Gedruckte Ressource
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    Entwurf integrierter Schaltungen, 4. Im Wissenschaftszentrum Bonn, 21./22. Februar 1989
    E.I.S.-Workshop. Gesellschaft für Mathematik und Datenverarbeitung
    Sankt Augustin: GMD, 1989
    Konferenzschrift, Monographie, Teil eines Werkes, Gedruckte Ressource
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    Testverfahren in der Mikroelektronik: Methoden und Werkzeuge ; mit 27 Tabellen
    Wilfried Daehn
    Berlin [u.a.]: Springer, 1997
    Monographie, Lehrbuch, Gedruckte Ressource
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Einführung in die Zuverlässigkeit elektronischer Geräte und Systeme
    Edgar Dombrowski
    Berlin: AEG-Telefunken, 1970
    Monographie, Gedruckte Ressource
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Zuverlässigkeit, Verfügbarkeit und Sicherheit in der Elektronik: eine Brücke von der Zuverlässigkeitstheorie zu den Aufgaben der Zuverlässigkeitspraxis
    Eugen Schaefer
    1. Aufl.. - Würzburg: Vogel, 1979
    Monographie, Gedruckte Ressource
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Fehleranalyse an Halbleiterbauteilen
    R. Eckert ..
    Sindelfingen: Expert-Verlag, 1985
    Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Präparationstechniken für die Fehleranalyse an integrierten Halbleiterschaltungen
    Friedrich Beck
    Weinheim: VCH, 1988
    Monographie, Gedruckte Ressource
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Prüfbarkeit elektronischer Schaltungen: Grundlagen, Verknüpfungen und Anwendung von CAD und CAT ; mit 20 Tabellen
    Manfred Weyerer ; Gerald Goldemund
    München [u.a.]: Hanser, 1988
    Monographie, Gedruckte Ressource
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Zuverlässigkeit elektronischer Bauelemente: mit 9 Tabellen
    Wilhelm Ackmann
    Heidelberg: Hüthig, 1976
    Monographie, Gedruckte Ressource
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Test und Testbarkeit digitaler Schaltungen: mit 43 Tabellen und 18 Aufgaben mit Lösungen
    von Hans Wojtkowiak
    Stuttgart: Teubner, 1988
    Monographie, Gedruckte Ressource
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Qualität und Zuverlässigkeit elektronischer Bauelemente und Systeme: mit 24 Tabellen
    von Günter Käs
    München [u.a.]: Oldenbourg, 1983
    Monographie, Gedruckte Ressource
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Automatische Erzeugung von Selbsttestprogrammen
    Krüger, Gerd
    Köln: Verl. TÜV Rheinland, 1988
    Software, Monographie, Sonstiges, Gedruckte Ressource
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Umweltbedingungen, Umweltprüfungen: klimatische Umwelteinflüße und Simulationsverfahren für die Erprobung technischer Produkte
    von Hans-Werner Bach und Hans Arnold Feil
    Berlin [u.a.]: Siemens-Aktiengesellschaft, Abt. Verl, 1979
    Monographie, Gedruckte Ressource
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Zum Test von großflächigen integrierten Schaltungen unter besonderer Berücksichtigung der Netze
    Grützner, Matthias
    1988
    Monographie, Hochschulschrift, Gedruckte Ressource
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Zuverlässigkeit elektronischer Einrichtungen
    von Heinrich Preuß
    2., bearb. Aufl.. - Berlin: Verl. Technik, 1978
    Monographie, Gedruckte Ressource
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Entwurf kundenspezifischer integrierter MOS-Schaltungen
    Joachim Eggers (Hrsg.)
    Berlin [u.a.]: Springer, 1990
    Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Integrierte Halbleiterschaltungen: Konstruktionsmerkmale, Fehlererscheinungen, Ausfallmechanismen
    Friedrich Beck
    Weinheim [u.a.]: VCH, 1993
    Monographie, Gedruckte Ressource
  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Zuverlässigkeit elektronischer Komponenten
    Titu I. Băjenescu
    Berlin [u.a.]: VDE-Verl, 1985
    Monographie, Gedruckte Ressource
  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Hierarchische Mehr-Ebenen-Fehlersimulation mit Modellen der Schalter-Ebene
    Wolfgang Meyer
    München [u.a.]: Oldenbourg, 1994
    Monographie, Hochschulschrift, Gedruckte Ressource
  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Testmustergenerierung und Fehlersimulation in digitalen Schaltungen mit hoher Komplexität
    Schulz, Michael H.
    Berlin [u.a.]: Springer, 1988
    Monographie, Gedruckte Ressource

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