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  1. Detailansicht für Treffer 1 öffnen
    New frontiers in testing: proceedings ; September 12, 13, 14, 1988, Sheraton Washington Hotel, Washington, DC
    International Test Conference 1988. Sponsored by the Computer Society of the IEEE ..
    Washington, D.C.: IEEE Computer Soc. Press, 1988
    Monographie, Konferenzschrift, Gedruckte Ressource
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    Digital systems testing and testable design
    Miron Abramovici ; Melvin A. Breuer ; Arthur D. Friedman
    Rev. print.. - New York: IEEE Press [u.a.], 1990
    Monographie, Gedruckte Ressource
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    Auxiliary signal design in fault detection and diagnosis
    X. J. Zhang
    Berlin [u.a.]: Springer, 1989
    Monographie, Gedruckte Ressource
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Post-digital electronics
    F. R. Pettit
    Chichester: Horwood [u.a.], 1982
    Monographie, Gedruckte Ressource
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    Integrated circuit failure analysis: a guide to preparation techniques
    Friedrich Beck
    Chichester [u.a.]: Wiley, 1998
    Monographie, Gedruckte Ressource
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    Knowledge based systems for test and diagnosis: proceedings of the IFIP WG 10.5 International Workshop on Knowledge Based Systems for Test and Diagnosis, Grenoble, France, 27 - 29 September, 1988
    ed. by G. Saucier ..
    Amsterdam [u.a.]: North-Holland, 1989
    Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    System test and diagnosis
    by William R. Simpson and John W. Sheppard
    Boston [u.a.]: Kluwer Acad. Publ, 1994
    Monographie, Gedruckte Ressource
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Analog circuit design: low noise, low power, low voltage ; mixed mode design with CAD tools ; voltage, current and time references ; [this papers are the revised versions of the papers presented at the Workshop on Advances in Analog Circuit Design, which was held in Villach, Austria, 26 - 28 April 1995]
    edited by Johan H. Huijsing ..
    Boston [u.a.]: Kluwer, 1996
    Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Design to test: a definitive guide for electronic design, manufacture, and service
    Jon Turino
    2. ed.. - New York [u.a.]: Van Nostrand Reinhold, 1990
    Monographie, Gedruckte Ressource
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Reliability and degradation of III-V optical devices
    Osamu Ueda
    Boston [u.a.]: Artech House, 1996
    Monographie, Gedruckte Ressource
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Reliability and failure of electronic materials and devices
    Milton Ohring
    San Diego [u.a.]: Academic Press, 1998
    Monographie, Gedruckte Ressource
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    High level test synthesis of digital VLSI circuits
    Mike Tien-Chien Lee
    Boston [u.a.]: Artech House, 1997
    Monographie, Gedruckte Ressource
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Testability concepts for digital ICs: the macro test approach
    by F. P. M. Beenker, R. G. Bennetts and A. P. Thijssen
    Dordrecht [u.a.]: Kluwer, 1995
    Monographie, Gedruckte Ressource
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Proceedings / European Design & Test Conference, ED & TC 97: March 17 - 20, 1997, Paris, France
    sponsored by European Design and Automation Association ..
    Los Alamitos, Calif. [u.a.]: IEEE Computer Soc. Press, 1997
    Monographie, Konferenzschrift, Gedruckte Ressource
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Tutorial: test generation for VLSI chips
    Vishwani D. Agrawal ; Sharad C. Seth
    Washington, DC: Computer Soc. Pr, 1988
    Aufsatzsammlung, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    LSI/VLSI testability design
    Tsui, Frank F.
    1. [Dr.]. - New York [u.a.]: McGraw-Hill, 1987
    Monographie, Gedruckte Ressource
  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    The three faces of test: design, characterization, production: proceedings
    International Test Conference 1984, October 16, 17, 18, 1984
    Silver Spring, Md.: IEEE Computer Soc. Pr, 1984
    Monographie, Konferenzschrift, Gedruckte Ressource
  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Failure analysis of integrated circuits: tools and techniques
    ed. by Lawrence C. Wagner
    Boston [u.a.]: Kluwer, 1999
    Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Testing's impact on design & [and] technology: September 8, 9, 10, 11, 1986 ; proceedings
    International Test Conference 1986
    Washington, DC: IEEE Computer Soc. Press, 1986
    Monographie, Konferenzschrift, Gedruckte Ressource
  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Introduction to component testing: application electronics
    Anthony K. Stevens
    Reading, Mass. [u.a.]: Addison-Wesley, 1986
    Monographie, Gedruckte Ressource

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