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    Reliability physics: annual proceedings
    International Reliability Physics Symposium. Sponsored by the IEEE Electron Devices Society and the IEEE Reliability Society
    New York, NY: IEEE, 1974-1989
    Zeitschrift, Konferenzschrift, Gedruckte Ressource
  2. Detailansicht für Treffer 2 öffnen
    25th anniversary compendium of papers from International Test Conference: 1970 - 1994
    ed. by Paul H. Bardell ..
    Los Alamitos, Calif. [u.a.]: IEEE Computer Soc. Press, 1994
    Festschrift, Konferenzschrift, Aufsatzsammlung, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    1994 IEEE international reliability physics proceedings
    32. Annual [1994 International Reliability Physics Symposium], San Jose, Calif., April 12, 13, 14, 1994. Sponsored by the IEEE Electron Devices Society ..
    Piscataway, NJ: Inst. of Electr. and Electronics Engineers, 1994
    Monographie, Konferenzschrift, Gedruckte Ressource
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Digest of papers / Eleventh Annual 1993 IEEE VLSI Test Symposium, April 6-8, 1993, Atlantic City, New Jersey
    sponsored by the IEEE Computer Society Technical Committee - Test Technology ..
    Los Alamitos, Calif. [u.a.]: IEEE Computer Society Pr, 1993
    Monographie, Konferenzschrift, Gedruckte Ressource
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Proceedings / International Test Conference 1999: [September 28 - 30, 1999, New Atlantic City Convention Center, Atlantic City, NJ, USA]
    International Test Conference, 30, 1999, Atlantic City, NJ
    Washington, DC: International Test Conference [u.a.], 1999
    Monographie, Konferenzschrift, Gedruckte Ressource
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    Meeting the tests of time: proceedings
    International Test Conference 1989, August 29 - 31, 1989, Sheraton Washington Hotel, Washington, DC. Sponsored by the IEEE Computer Society Test Technology Technical Committee ..
    Washington, D.C. [u.a.]: IEEE Computer Soc. Pr, 1989
    Monographie, Konferenzschrift, Gedruckte Ressource
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Analog circuit design: low noise, low power, low voltage ; mixed mode design with CAD tools ; voltage, current and time references ; [this papers are the revised versions of the papers presented at the Workshop on Advances in Analog Circuit Design, which was held in Villach, Austria, 26 - 28 April 1995]
    edited by Johan H. Huijsing ..
    Boston [u.a.]: Kluwer, 1996
    Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
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    Proceedings
    ETC 91, 2nd European Test Conference, Munich, April 10 - 12, 1991
    Berlin [u.a.]: VDE-Verl, 1991
    Monographie, Konferenzschrift, Gedruckte Ressource
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    Conference proceedings / ESREF 92, 3rd European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis, Schwäbisch Gmünd, Germany, 5 - 8 October 1992
    Conference organizers: ITG, Informationstechnische Gesellschaft im VDE in co-operation with ... [Chairman: W. H. Gerling]
    Berlin [u.a.]: VDE-Verl, 1992
    Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Proceedings of the 1st European Test Conference: Paris, April 12 - 14, 1989
    ETC, European Test Conference
    Washington, DC: IEEE Computer Society Pr, 1989
    Monographie, Konferenzschrift, Gedruckte Ressource
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Advanced research in VLSI and parallel systems: proceedings of the 1992 Brown/MIT Conference
    [Brown/MIT Conference on Advanced Research in VLSI and Parallel Systems]. Ed. by Thomas Knight ..
    Cambridge, Mass. [u.a.]: MIT Press, 1992
    Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Semiconductor device reliability: [proceedings of the NATO Advanced Research Workshop on Semiconductor Device Reliability, Heraklio, Crete, Greece, June 4 - 9, 1989]
    ed. by A. Christou ..
    Dordrecht [u.a.]: Kluwer Acad, 1990
    Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Testing's changing role: proceedings
    International Test Conference 1983, October 18 - 20, 1983
    Silver Spring, Md.: IEEE Computer Soc. Pr, 1983
    Monographie, Konferenzschrift, Gedruckte Ressource
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    Reliability '91: papers presented at the International Conference on Reliability Techniques and their Application, Reliability '91, 10 - 12 June 1991, held at the Royal Lancaster Hotel, London, UK
    ed. by R. H. Matthews
    London [u.a.]: Elsevier Applied Science, 1991
    Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Proceedings of the 1990 International Conference on Microelectronic Test Structures: March 5 - 7, 1990, San Diego, Calif
    sponsored by the IEEE Electron Devices Society
    Piscataway, NJ: Institute of Electrical and Electronics Engineers, 1990
    Monographie, Konferenzschrift, Gedruckte Ressource
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    Reliability physics: 1990 ; 28th annual proceedings
    [1990 International Reliability Physics Symposium], New Orleans, Louisiana, March 27, 28, 29, 1990. Sponsored by the IEEE Electron Devices Society ..
    New York: Inst. of Electr. and Electronics Engineers, 1990
    Monographie, Konferenzschrift, Gedruckte Ressource
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    Proceedings / IEEE ... Workshop on Simulation & Test Generation Environments. IEEE Couter Society, Test Technology Committee
    Workshop on Simulation and Test Generation Environments
    Washington, DC: IEEE Computer Soc. Pr, 1986-
    Zeitschrift, Konferenzschrift, Gedruckte Ressource
  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Curriculum for test technology
    [Curriculum for Test Technology Workshop], M.E.I.S. Center, Univ. of Minnesota, Minneapolis, 1983, Nov. 16 - 17, 1983. IEEE Computer Soc. Test Technology Committee
    Silver Spring, Md.: IEEE Computer Soc. Pr, 1983
    Monographie, Konferenzschrift, Gedruckte Ressource
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    The future of test: International Test Conference 1985 proceedings ; November 19, 20, 21, 1985
    sponsored by: The IEEE Computer Society ..
    Washington, D.C.: IEEE Computer Soc. Press, 1985
    Monographie, Konferenzschrift, Gedruckte Ressource
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    Proceedings / International Test Conference. Sponsored by: The IEEE Computer Soc. Test Technology Committee
    International Test Conference
    Los Angeles, Calif.: Computer Soc. Press, 1983-1989
    Zeitschrift, Konferenzschrift, Gedruckte Ressource

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