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    Instabilities in silicon devices, 3. New insulators, devices and radiation effects
    ed. by Gérard Barbottin ..
    Amsterdam [u.a.]: North-Holland, 1999
    Sammelwerk, Teil eines Werkes, keine Angabe
  2. Detailansicht für Treffer 2 öffnen
    Proceedings of the ... International Conference on the Numerical Analysis of Semiconductor Devices and Integrated Circuits, 3. Held in Galway, Ireland from 15th to 17th June 1983
    NASECODE
    Dublin: Boole Press, 1983
    Konferenzschrift, Monographie, Teil eines Werkes, keine Angabe
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Defect and fault tolerance in VLSI systems, 1
    [proceedings of the International Workshop on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems, held October 6 - 7, 1988, in Springfield, Massachusetts]. Ed. by Israel Koren
    New York [u.a.]: Plenum Pr, 1989
    Sammelwerk, Teil eines Werkes, keine Angabe
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Defect and fault tolerance in VLSI systems, 2
    [proceedings of the International Workshop on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems, held October 6 - 7, 1988, in Springfield, Massachusetts]. Ed. by Israel Koren
    New York [u.a.]: Plenum Pr, 1990
    Sammelwerk, Teil eines Werkes, keine Angabe

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