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    New frontiers in testing: proceedings ; September 12, 13, 14, 1988, Sheraton Washington Hotel, Washington, DC
    International Test Conference 1988. Sponsored by the Computer Society of the IEEE ..
    Washington, D.C.: IEEE Computer Soc. Press, 1988
    Monographie, Konferenzschrift, Gedruckte Ressource
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    Testing semiconductor memories: theory and practice
    A. J. van de Goor
    Chichester [u.a.]: Wiley, 1991
    Monographie, Gedruckte Ressource
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    Testing and diagnosis of VLSI and ULSI: [proceedings of the NATO Advanced Study Inst. on Testing and Diagnosis of VLSI and ULSI, Como, Italy, June 22 - July 3, 1987]
    ed. by Fabrizio Lombardi ..
    Dordrecht [u.a.]: Kluwer Acad, 1988
    Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
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    Integrated circuit failure analysis: a guide to preparation techniques
    Friedrich Beck
    Chichester [u.a.]: Wiley, 1998
    Monographie, Gedruckte Ressource
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Defect oriented testing for CMOS analog and digital circuits
    by Manoj Sachdev
    Boston [u.a.]: Kluwer, 1998
    Monographie, Gedruckte Ressource
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Digital logic testing and simulation
    Miczo, Alexander
    1. [Dr.]. - New York [u.a.]: Harper & Row, 1986
    Monographie, Gedruckte Ressource
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Tutorial: test generation for VLSI chips
    Vishwani D. Agrawal ; Sharad C. Seth
    Washington, DC: Computer Soc. Pr, 1988
    Aufsatzsammlung, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Proceedings / 1998 IEEE International Workshop on IDDQ Testing: November 12 - 13, 1998, San Jose, California
    Sponsored by IEEE Computer Society Technical Committee on Test Technology. Ed. by Yashwant K. Malaiya ..
    Los Alamitos, Calif. [u.a.]: IEEE Computer Society, 1998
    Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
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    LSI/VLSI testability design
    Tsui, Frank F.
    1. [Dr.]. - New York [u.a.]: McGraw-Hill, 1987
    Monographie, Gedruckte Ressource
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Neural models and algorithms for digital testing
    Srimat T. Chakradhar ; Vishwani D. Agrawal ; Michael L. Bushnell
    Boston, Mass. [u.a.]: Kluwer Acad. Publ, 1991
    Monographie, Gedruckte Ressource
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    Testing's impact on design & [and] technology: September 8, 9, 10, 11, 1986 ; proceedings
    International Test Conference 1986
    Washington, DC: IEEE Computer Soc. Press, 1986
    Monographie, Konferenzschrift, Gedruckte Ressource
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Proceedings / International Test Conference 1997: [November 1 - 6, 1997, Sheraton Washington Hotel, Washington, DC, USA]
    [sponsored by IEEE Computer Society Test Technology Technical Committee ..
    Washington, DC: International Test Conference [u.a.], 1997
    Monographie, Konferenzschrift, Gedruckte Ressource
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Zum Test von großflächigen integrierten Schaltungen unter besonderer Berücksichtigung der Netze
    Grützner, Matthias
    1988
    Monographie, Hochschulschrift, Gedruckte Ressource
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Boundary scan test: a practical approach
    by Harry Bleeker, Peter van den Eijnden and Frans de Jong
    Dordrecht [u.a.]: Kluwer, 1993
    Monographie, Gedruckte Ressource
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Digital circuit testing: a guide to DFT and other techniques
    Francis C. Wang
    1. [Dr.]. - San Diego, Calif. [u.a.]: Academic Pr, 1991
    Monographie, Gedruckte Ressource
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    25th anniversary compendium of papers from International Test Conference: 1970 - 1994
    ed. by Paul H. Bardell ..
    Los Alamitos, Calif. [u.a.]: IEEE Computer Soc. Press, 1994
    Festschrift, Konferenzschrift, Aufsatzsammlung, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Digest of papers / Eleventh Annual 1993 IEEE VLSI Test Symposium, April 6-8, 1993, Atlantic City, New Jersey
    sponsored by the IEEE Computer Society Technical Committee - Test Technology ..
    Los Alamitos, Calif. [u.a.]: IEEE Computer Society Pr, 1993
    Monographie, Konferenzschrift, Gedruckte Ressource
  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Digital systems testing and testable design
    Miron Abramovici ; Melvin A. Breuer ; Arthur D. Friedman
    New York: Computer Science Pr, 1990
    Monographie, Gedruckte Ressource
  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Meeting the tests of time: proceedings
    International Test Conference 1989, August 29 - 31, 1989, Sheraton Washington Hotel, Washington, DC. Sponsored by the IEEE Computer Society Test Technology Technical Committee ..
    Washington, D.C. [u.a.]: IEEE Computer Soc. Pr, 1989
    Monographie, Konferenzschrift, Gedruckte Ressource
  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Assessing fault model and test quality
    by Kenneth M. Butler and M. Ray Mercer
    Boston, [Mass.] [u.a.]: Kluwer Acad. Publ, 1992
    Monographie, Gedruckte Ressource

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