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  1. Detailansicht für Treffer 1 öffnen
    Querschnitts-Raster-Tunnel-Mikroskopie an Silizium-Spaltflächen
    von Roland Nuffer
    Berlin: Logos-Verl, 2001
    Monographie, Hochschulschrift, Gedruckte Ressource
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    X-ray microanalysis in the electron microscope
    Chandler, John A.
    4. print.. - Amsterdam [u.a.]: North-Holland Publ. Co, 1987
    Monographie, Gedruckte Ressource
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Microscopy of semiconducting materials, 3. Proceedings of the Institute of Physics Conference, held in St. Catherine's College, Oxford, 21 - 23 March 1983: MSM
    Oxford Conference on Microscopy of Semiconducting Materials
    Bristol [u.a.]: Inst. of Physics Publ, 1983
    Konferenzschrift, Monographie, Teil eines Werkes, keine Angabe
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Praxis der Rasterelektronenmikroskopie und Mikrobereichsanalyse
    Peter Fritz Schmidt ..
    Renningen-Malmsheim: Expert-Verl, 1994
    Aufsatzsammlung, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Principles and applications of high-energy ion microbeams
    ed. by F. Watt ... With major contributions from G. W. Grime ..
    Bristol: Hilger, 1987
    Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    The science of paintings
    W. Stanley Taft ; James W. Mayer
    New York [u.a.]: Springer, 2000
    Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Cathodoluminescence microscopy of inorganic solids
    B. G. Yacobi and D. B. Holt
    New York [u.a.]: Plenum Press, 1990
    Monographie, Gedruckte Ressource
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Advanced scanning electron microscopy and X-ray microanalysis
    Dale E. Newbury ..
    New York [u.a.]: Plenum Press, 1986
    Sammelwerk, Gedruckte Ressource
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    Microanalysis of solids
    ed. by B. G. Yacobi ..
    New York [u.a.]: Plenum Press, 1994
    Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis: A TEXT FOR BIOLOGISTS, MATERIAL SCIENTISTS AND GEOLOGISTS
    Joseph I. Goldstein ..
    New York [u.a.]: Plenum Press, 1981
    Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Near field optics: principles and applications
    the Second Asia-Pacific Workshop on Near Field Optics, Beijing, China, October 20 - 23, 1999. Editors: Xing Zhu ..
    Singapore [u.a.]: World Scientific Publ. Co, 2000
    Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis
    Lawes, Grahame
    Chichester [u.a.]: Wiley, 1987
    Monographie, Gedruckte Ressource
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Structural and chemical analysis of materials: X-ray, electron and neutron diffraction ; X-ray, electron and ion spectrometry ; electron microscopy
    J. P. Eberhart
    Chichester [u.a.]: Wiley, 1991
    Monographie, Gedruckte Ressource
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Microscopy of semiconducting materials, 2. Proceedings of the Royal Microscopical Society Conference held in St. Catherine's College, Oxford, 6 - 10 April 1981: MSM
    Oxford Conference on Microscopy of Semiconducting Materials
    Bristol [u.a.]: Inst. of Physics Publ, 1981
    Konferenzschrift, Monographie, Teil eines Werkes, keine Angabe
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Microscopy of semiconducting materials, 4. Proceedings of the Royal Microscopical Soc. Conference held in St. Catherine's College, Oxford, 25 - 27 March 1985: MSM
    Oxford Conference on Microscopy of Semiconducting Materials
    Bristol [u.a.]: Inst. of Physics Publ, 1985
    Konferenzschrift, Monographie, Teil eines Werkes, keine Angabe
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Introduction to analytical electron microscopy
    ed. by John J. Hren ..
    New York [u.a.]: Plenum Press, 1979
    Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Scanned image microscopy
    ED. BY ERIC A. ASH
    LONDON: Acad. Press, 1980
    Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Struktur der Materie: Grundlagen, Mikroskopie und Spektroskopie
    von Wolfgang Göpel und Christiane Ziegler
    Stuttgart [u.a.]: Teubner, 1994
    Monographie, Gedruckte Ressource
  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Festkörperanalyse mit Elektronen, Ionen und Röntgenstrahlen
    hrsg. von O. Brümmer ..
    Berlin: Dt. Verl. d. Wiss, 1980
    Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Particle beam microanalysis: fundamentals, methods and applications
    E. Fuchs ; H. Oppolzer ; H. Rehme
    Weinheim [u.a.]: VCH, 1990
    Monographie, Gedruckte Ressource

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