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    Electron holography
    A. Tonomura
    Berlin [u.a.]: Springer, 1993
    Monographie, Gedruckte Ressource
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    Introduction to electron microscopy
    Wischnitzer, Saul
    3. ed.. - New York: Pergamon Pr, 1981
    Monographie, Gedruckte Ressource
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    Physikalische Grundlagen der Elektronenmikroskopie
    von Helmut Alexander
    Stuttgart: Teubner, 1997
    Monographie, Lehrbuch, Gedruckte Ressource
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    Mono-cycle photonics and optical scanning tunneling microscopy: route to femtosecond Ångstrom technology
    M. Yamashita ... (eds.)
    Berlin [u.a.]: Springer, 2005
    Sammelwerk, Gedruckte Ressource
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    Elektronenmikroskopie: erweiterte Einsatzmöglichleiten durch neue Entwicklungen und spezielle Abbildungs- und Präparationsmethoden
    Fritz Grasenick ..
    Ehningen bei Böblingen: Expert-Verl, 1991
    Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Evaluation of advanced semiconductor materials by electron microscopy: [proceedings of a NATO Advanced Research Workshop on the Evaluation of Advanced Semiconductor Materials by Electron Microscopy, held September 12 - 17, 1988, in Bristol, United Kingdom]
    ed. by David Cherns
    New York [u.a.]: Plenum Press, 1989
    Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    In situ scanning electron microscopy in materials research
    ed. by Klaus Wetzig ..
    1. ed.. - Berlin: Akad.-Verl, 1995
    Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Electron microscopy and analysis, 1987. Held at UMIST, 8. - 9. Sept. 1987 (EMAG 87): proceedings of the Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference
    Institute of Physics, London, Electron Microscopy and Analysis Group
    London: Institute of Physics, 1987
    Monographie, Teil eines Werkes, Gedruckte Ressource
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Raster-Tunnel-Mikroskopie
    Claus Hamann ; Michael Hietschold
    Berlin: Akad.-Verl, 1991
    Monographie, Gedruckte Ressource
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Scanning electron microscopy
    by Oliver C. Wells with portions contributed by ..
    New York [u.a.]: McGraw-Hill, 1974
    Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Scanning tunneling microscopy
    ed. by H. Neddermeyer
    Dordrecht [u.a.]: Kluwer Academic Publ, 1993
    Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Scanning force microscopy: with applications to electric, magnetic, and atomic forces
    Dror Sarid
    Rev. ed.. - New York [u.a.]: Oxford Univ. Press, 1994
    Monographie, Gedruckte Ressource
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Raster-Elektronenmikroskopie
    L. Reimer ; G. Pfefferkorn
    2., neubearb. u. erw. Aufl.. - Berlin [u.a.]: Springer, 1977
    Monographie, Einführung, Gedruckte Ressource
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Electron holography
    Akira Tonomura
    2., enl. ed.. - Berlin [u.a.]: Springer, 1999
    Monographie, Gedruckte Ressource
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Electron microscopy in solid state physics
    ed. by H. Bethge ..
    Amsterdam [u.a.]: Elsevier, 1987
    Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Surface and interface characterization by electron optical methods: [proceedings of a NATO Advanced Study Institute on the Study of Surfaces and Interfaces by Electron Optical Techniques held April 4 - 15, 1987, in Erice, Sicily, Italy]
    ed. by A. Howie ..
    New York [u.a.]: Plenum Press, 1988
    Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    The scanning electron microscope
    by C. W. Oatley
    Cambridge: Cambridge Univ. Pr
    Monographie, Schriftenreihe, Gedruckte Ressource
  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Image analysis, enhancement and interpretation
    D. L. Misell
    Amsterdam [u.a.]: North-Holland Publ. Co, 1978
    Monographie, Gedruckte Ressource
  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Computer processing of electron microscope images
    ed. by Peter W. Hawkes. With contributions by J. Frank ..
    Berlin [u.a.]: Springer, 1980
    Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Electron microscopy and analysis, 1979. Held at the University of Sussex, Brighton, 3 - 6 September 1978 (EMAG 79): proceedings of the Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference
    Institute of Physics, London, Electron Microscopy and Analysis Group
    London: Institute of Physics, 1980
    Konferenzschrift, Monographie, Teil eines Werkes, Gedruckte Ressource

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