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57 Treffer

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    Semiconductor material and device characterization
    Schroder, Dieter K.
    New York [u.a.]: Wiley, 1990
    Monographie, Gedruckte Ressource
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    Proceedings of the Electrochemical Society Symposium on Diagnostic Techniques for Semiconductor Materials and Devices
    ed.: P. Rai-Choudhury ..
    Pennington, NJ: Electrochemical Soc, 1997
    Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Modern optical characterization techniques for semiconductors and semiconductor devices: 26 - 27 March 1987, Bay Point, Florida
    O. J. Glembocki ... Chairs/ed
    Bellingham, Wash.: SPIE - the Internat. Soc. for Opt. Engineering, 1987
    Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Proceedings of the Symposium on Diagnostic Techniques for Semiconductor Materials and Devices
    Electronics Divisions. Eds. D. K. Schroder ..
    Pennington, NJ: Electrochemical Society, 1994
    Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
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    Semiconductor characterization: present status and future needs
    ed.: W. M. Bullis ..
    Woodbury, NY: AIP Press, 1996
    Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
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    Semiconductor measurements and instrumentation
    W. R. Runyan and T. J. Shaffner
    2. ed.. - New York [u.a.]: McGraw-Hill, 1997
    Monographie, Gedruckte Ressource
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    Growth and characterisation of semiconductors: papers contributing to a short course organised by the Departments of Materials and Physics with the Continuing Education Centre at Imperial College, in association with ..
    ed. by R. A. Stradling ..
    Repr. with corr.. - Bristol [u.a.]: Hilger, 1991
    Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
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    Measurement of high speed signals in solid state devices
    vol. ed. Robert B. Marcus
    Boston [u.a.]: Acad. Press, 1990
    Sammelwerk, Gedruckte Ressource
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    Evaluation of advanced semiconductor materials by electron microscopy: [proceedings of a NATO Advanced Research Workshop on the Evaluation of Advanced Semiconductor Materials by Electron Microscopy, held September 12 - 17, 1988, in Bristol, United Kingdom]
    ed. by David Cherns
    New York [u.a.]: Plenum Press, 1989
    Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Ultrafast spectroscopy of semiconductors and semiconductor nanostructures
    Jagdeep Shah
    2., enl. ed.. - Berlin [u.a.]: Springer [u.a.], 1999
    Monographie, Gedruckte Ressource
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Characterization of semiconductor materials
    Philip F. Kane ; Graydon B. Larrabee
    New York [u.a.]: McGraw-Hill, 1970
    Monographie, Gedruckte Ressource
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Praxis der Rasterelektronenmikroskopie und Mikrobereichsanalyse
    Peter Fritz Schmidt ..
    Renningen-Malmsheim: Expert-Verl, 1994
    Aufsatzsammlung, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Electromagnetic nondestructive evaluation, 2. [A selection of papers presented at the Third International Workshop on Electromagnetic Nondestructive Evaluation )E'NDE, held from 14th to 16th September, 1997 at Reggio Calabria, Italy] / ed. by R. Albanese ..
    Amsterdam [u.a.]: IOS Pr, 1998
    Konferenzschrift, Monographie, Teil eines Werkes, Gedruckte Ressource
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Electromagnetic nondestructive evaluation, 4. [A selection of papers presented at the Fifth International Workshop on Electromagnetic Nondestructive Evaluation, held in Des Moines, Iowa, U.S.A., from August 1 through 3, 1999] / ed. by S. S. Udpa ..
    Amsterdam [u.a.]: IOS Pr, 2000
    Konferenzschrift, Monographie, Teil eines Werkes, Gedruckte Ressource
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Electromagnetic nondestructive evaluation, 3. [The E'NDE '98 Workshop] / ed. by D. Lesselier ..
    Amsterdam [u.a.]: IOS Pr, 1999
    Konferenzschrift, Monographie, Teil eines Werkes, Gedruckte Ressource
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Nondestructive evaluation of semiconductor materials and devices: lectures pres. at the NATO Advanced Study Institute on Nondestructive Evaluation of Semiconductor Materials and Devices, held at the Villa Tuscolano, Italy, Sept. 19-29, 1978
    Zemel, Jay N.
    New York, NY: Plenum Press, 1979
    Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Halbleiterprüfung: Licht- und Rasterelektronenmikroskopie ; mit 12 Tabellen
    Wolfgang Schäfer ; Georg Terlecki
    Heidelberg: Hüthig, 1986
    Monographie, Gedruckte Ressource
  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Photoacoustic and thermal wave phenomena in semiconductors
    ed. by Andreas Mandelis
    New York [u.a.]: North-Holland [Publ. Co.], 1987
    Aufsatzsammlung, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    The role of microscopy in semiconductor failure analysis
    B. P. Richards and P. K. Footner
    Oxford: Oxford Univ. Press [u.a.], 1992
    Monographie, Gedruckte Ressource
  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Particle beam microanalysis: fundamentals, methods and applications
    E. Fuchs ; H. Oppolzer ; H. Rehme
    Weinheim [u.a.]: VCH, 1990
    Monographie, Gedruckte Ressource

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