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    Proceedings / 1998 IEEE International Workshop on IDDQ Testing: November 12 - 13, 1998, San Jose, California
    Sponsored by IEEE Computer Society Technical Committee on Test Technology. Ed. by Yashwant K. Malaiya ..
    Los Alamitos, Calif. [u.a.]: IEEE Computer Society, 1998
    Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
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    LSI/VLSI testability design
    Tsui, Frank F.
    1. [Dr.]. - New York [u.a.]: McGraw-Hill, 1987
    Monographie, Gedruckte Ressource
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    Testing semiconductor memories: theory and practice
    A. J. van de Goor
    Chichester [u.a.]: Wiley, 1991
    Monographie, Gedruckte Ressource
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Entwurf integrierter Schaltungen, 4. Im Wissenschaftszentrum Bonn, 21./22. Februar 1989
    E.I.S.-Workshop. Gesellschaft für Mathematik und Datenverarbeitung
    Sankt Augustin: GMD, 1989
    Konferenzschrift, Monographie, Teil eines Werkes, Gedruckte Ressource
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    The three faces of test: design, characterization, production: proceedings
    International Test Conference 1984, October 16, 17, 18, 1984
    Silver Spring, Md.: IEEE Computer Soc. Pr, 1984
    Monographie, Konferenzschrift, Gedruckte Ressource
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    New frontiers in testing: proceedings ; September 12, 13, 14, 1988, Sheraton Washington Hotel, Washington, DC
    International Test Conference 1988. Sponsored by the Computer Society of the IEEE ..
    Washington, D.C.: IEEE Computer Soc. Press, 1988
    Monographie, Konferenzschrift, Gedruckte Ressource
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Industrielle Qualitätssicherung in der Fertigung elektronischer und elektromechanischer Bauelemente
    Heinz Wucherer. [Enthält Beitr. der Autoren Wilhelm Ackmann ...]
    1. Aufl.. - Würzburg: Vogel, 1981
    Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Semiconductor material and device characterization
    Schroder, Dieter K.
    New York [u.a.]: Wiley, 1990
    Monographie, Gedruckte Ressource
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Failure mechanisms in semiconductor devices
    E. A. Amerasekera and D. S. Campbell
    Chichester [u.a.]: Wiley, 1987
    Monographie, Gedruckte Ressource
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    VLSI design for manufacturing: yield enhancement
    by Stephen W. Director ; Wojciech Maly ; Andrzej J. Strojwas
    Boston, Mass. [u.a.]: Kluwer, 1990
    Monographie, Gedruckte Ressource
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Yield simulation for integrated circuits
    by Duncan Moore Henry Walker
    Boston [u.a.]: Kluwer, 1987
    Monographie, Gedruckte Ressource
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Unified methods for VLSI simulation and test generation
    by Kwang-Ting Cheng and Vishwani D. Agrawal
    Boston, Mass. [u.a.]: Kluwer Acad. Publ, 1989
    Monographie, Gedruckte Ressource
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Post-digital electronics
    F. R. Pettit
    Chichester: Horwood [u.a.], 1982
    Monographie, Gedruckte Ressource
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Reliability engineering for electronic design
    Fuqua, Norman B.
    1. [Dr.]. - New York [u.a.]: Dekker, 1987
    Monographie, Gedruckte Ressource
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Tutorial: test generation for VLSI chips
    Vishwani D. Agrawal ; Sharad C. Seth
    Washington, DC: Computer Soc. Pr, 1988
    Aufsatzsammlung, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Reliability physics: annual proceedings
    International Reliability Physics Symposium. Sponsored by the IEEE Electron Devices Society and the IEEE Reliability Society
    New York, NY: IEEE, 1974-1989
    Zeitschrift, Konferenzschrift, Gedruckte Ressource
  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Digital circuit testing: a guide to DFT and other techniques
    Francis C. Wang
    1. [Dr.]. - San Diego, Calif. [u.a.]: Academic Pr, 1991
    Monographie, Gedruckte Ressource
  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Yield and variability optimization of integrated circuits
    J.C. Zhang, M. A. Styblinski
    Boston [u.a.]: Kluwer Academic Publishers, 1995
    Monographie, Gedruckte Ressource
  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Digital test engineering
    J. Max Cortner
    1. [Dr.]. - New York [u.a.]: Wiley, 1987
    Monographie, Gedruckte Ressource
  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Handbook of electronic test procedures
    John D. Lenk
    Englewood Cliffs, N.J.: Prentice-Hall, 1982
    Monographie, Gedruckte Ressource

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