Nondestructive evaluation of semiconductor materials and devices: lectures pres. at the NATO Advanced Study Institute on Nondestructive Evaluation of Semiconductor Materials and Devices, held at the Villa Tuscolano, Italy, Sept. 19-29, 1978

Zemel, Jay N.

New York, NY: Plenum Press, 1979

Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource - 782 S.

Titel:	Nondestructive evaluation of semiconductor materials and devices: lectures pres. at the NATO Advanced Study Institute on Nondestructive Evaluation of Semiconductor Materials and Devices, held at the Villa Tuscolano, Italy, Sept. 19-29, 1978
Autor/in / Beteiligte Person:	Zemel, Jay N.
Körperschaft:	Advanced Study Institute on Nondestructive Evaluation of Semiconductor Materials and Devices
Verwandtes Werk:	NATO advanced study institutes series : Series B, Physics — Weitere Bände
Veröffentlichung:	New York, NY: Plenum Press, 1979
Medientyp:	Konferenzschrift, Sammelwerk
Datenträgertyp:	Gedruckte Ressource
Umfang:	782 S.
ISBN:	0306402939
Schlagwort:	Halbleiter Halbleiterwerkstoff Werkstoffprüfung Charakterisierung
Sonstiges:	Gesamttitelangabe: NATO advanced study institutes series : Series B, Physics ; 46 Lokale Notationen: XWZ Fächer: Elektrotechnik RVK: UP 3100 Halbleitermaterialien, Allgemeines; UP 2800 Allgemeines hbz Verbund-ID: HT001200071

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