VLSI testing & [and] validation techniques

Hassan K. Reghbati

Washington, DC: IEEE Computer Soc. Pr. [u.a.], 1985

Sammelwerk, Gedruckte Ressource - IX, 603 S. : graph. Darst.

Titel:	VLSI testing & [and] validation techniques
Verantwortlichkeitsangabe:	Hassan K. Reghbati
Autor/in / Beteiligte Person:	Reghbati, Hassan K.
Veröffentlichung:	Washington, DC: IEEE Computer Soc. Pr. [u.a.], 1985
Medientyp:	Sammelwerk
Datenträgertyp:	Gedruckte Ressource
Umfang:	IX, 603 S. : graph. Darst.
ISBN:	0444879471
Schlagwort:	Test CAD VLSI Prüftechnik
Sonstiges:	Paperbackausg. u.d.T.: Tutorial: VLSI testing & validation techniques Lokale Notationen: YEV Fächer: Elektrotechnik RVK: ST 190 Schaltungskreistechnik (techn.-physik.), Integrierte Schaltung, spez. Schaltkreise, VLSI, TTL, ECL etc.; ST 195 Grundlagen des Schaltungsentwurfs (log.) hbz Verbund-ID: HT002190006

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