The three faces of test: design, characterization, production: proceedings

International Test Conference 1984, October 16, 17, 18, 1984

Silver Spring, Md.: IEEE Computer Soc. Pr, 1984

Monographie, Konferenzschrift, Gedruckte Ressource - XXXI, 886 S. : Ill., graph. Darst.

Titel:	The three faces of test: design, characterization, production: proceedings
Verantwortlichkeitsangabe:	International Test Conference 1984, October 16, 17, 18, 1984
Körperschaft:	International Test Conference
Veröffentlichung:	Silver Spring, Md.: IEEE Computer Soc. Pr, 1984
Medientyp:	Monographie, Konferenzschrift
Datenträgertyp:	Gedruckte Ressource
Umfang:	XXXI, 886 S. : Ill., graph. Darst.
ISBN:	0818605480
Schlagwort:	Prüftechnik Mikroelektronik
Sonstiges:	Konferenzschrift: Philadelphia, Pa., 1984 Lokale Notationen: YEE Fächer: Elektrotechnik RVK: SS 1984 Veranstaltungsjahr 1984 hbz Verbund-ID: HT002745324

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