Applications of X-ray topographic methods to materials science
New York [u.a.]: Plenum Pr, 1984
Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
- XIII, 536 S. : Ill., graph. Darst., Tab.
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Titel: |
Applications of X-ray topographic methods to materials science
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Verantwortlichkeitsangabe: | [based on the proceedings of the France-U.S.A. Seminar on Application of X-Ray Topographic Methods to Materials Science, held August 7-10, 1983 in Snowmass Village, Colorado]. Ed. by Sigmund Weissmann .. |
Autor/in / Beteiligte Person: | Weissmann, Sigmund |
Körperschaft: | France-USA Seminar on Application of X-Ray Topographic Methods to Materials Science, 1983, Snowmass Village, Colo ; France-USA Seminar on Application of X-Ray Topographic Methods to Materials Science |
Veröffentlichung: | New York [u.a.]: Plenum Pr, 1984 |
Medientyp: | Konferenzschrift, Sammelwerk |
Datenträgertyp: | Gedruckte Ressource |
Umfang: | XIII, 536 S. : Ill., graph. Darst., Tab. |
ISBN: | 030641838X |
Schlagwort: |
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Sonstiges: |
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