Modern optical characterization techniques for semiconductors and semiconductor devices: 26 - 27 March 1987, Bay Point, Florida
Bellingham, Wash.: SPIE - the Internat. Soc. for Opt. Engineering, 1987
Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
- VI, 282 S. : Ill., graph. Darst.
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Titel: |
Modern optical characterization techniques for semiconductors and semiconductor devices: 26 - 27 March 1987, Bay Point, Florida
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Verantwortlichkeitsangabe: | O. J. Glembocki ... Chairs/ed |
Autor/in / Beteiligte Person: | Glembocki, O. J. |
Verwandtes Werk: | |
Veröffentlichung: | Bellingham, Wash.: SPIE - the Internat. Soc. for Opt. Engineering, 1987 |
Medientyp: | Konferenzschrift, Sammelwerk |
Datenträgertyp: | Gedruckte Ressource |
Umfang: | VI, 282 S. : Ill., graph. Darst. |
ISBN: | 089252829x |
Schlagwort: |
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Sonstiges: |
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