Testmustergenerierung mit hoher Fehlerüberdeckung für CMOS-Schaltungen

Uwe Hübner

Sankt Augustin: Ges. für Mathematik u. Datenverarbeitung mbH, 1989

Monographie, Gedruckte Ressource - 282 S. : Ill.

Titel:	Testmustergenerierung mit hoher Fehlerüberdeckung für CMOS-Schaltungen
Verantwortlichkeitsangabe:	Uwe Hübner
Autor/in / Beteiligte Person:	Hübner, Uwe
Verwandtes Werk:	GMD-Studien — Weitere Bände
Veröffentlichung:	Sankt Augustin: Ges. für Mathematik u. Datenverarbeitung mbH, 1989
Medientyp:	Monographie
Datenträgertyp:	Gedruckte Ressource
Umfang:	282 S. : Ill.
ISBN:	3884571745 brosch. : DM 62.00
Schlagwort:	CMOS-Schaltung
Sonstiges:	Gesamttitelangabe: GMD-Studien ; 174 Lokale Notationen: TWB; TUR Fächer: Informatik RVK: ZN 4960 MOS-, MIS-Schaltungen (hier auch CTD-Schaltungen; Eimerkettenschaltungen; CMOS-Schaltungen...) hbz Verbund-ID: HT003520720

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