Test pattern generation for combinatorial and sequential MOS circuits by symbolic fault simulation
1988
Monographie, Hochschulschrift, Gedruckte Ressource
- IX, 129 S. : graph. Darst.
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Titel: |
Test pattern generation for combinatorial and sequential MOS circuits by symbolic fault simulation
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Verantwortlichkeitsangabe: | Kyeongsoon Cho |
Autor/in / Beteiligte Person: | Cho, Kyeongsoon |
Veröffentlichung: | 1988 |
Medientyp: | Monographie, Hochschulschrift |
Datenträgertyp: | Gedruckte Ressource |
Umfang: | IX, 129 S. : graph. Darst. |
Sonstiges: |
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