Testing semiconductor memories: theory and practice

A. J. van de Goor

Chichester [u.a.]: Wiley, 1991

Monographie, Gedruckte Ressource - XXIII, 512 S. : graph. Darst.

Titel:	Testing semiconductor memories: theory and practice
Verantwortlichkeitsangabe:	A. J. van de Goor
Autor/in / Beteiligte Person:	Goor, A. J. +van +de
Veröffentlichung:	Chichester [u.a.]: Wiley, 1991
Medientyp:	Monographie
Datenträgertyp:	Gedruckte Ressource
Umfang:	XXIII, 512 S. : graph. Darst.
ISBN:	0471925861
Schlagwort:	Halbleiterspeicher Test Testen
Sonstiges:	2. Ex. mit Diskette (5,25" ; 360 KB ; IBM-PC XT/AT ; MS-DOS 2.0 ￷). Diskette auf Standort 04 Lokale Notationen: YFE; TWG; YEE Fächer: Elektrotechnik; Informatik RVK: ST 175 Speicher, Speicherverwaltung, (CD-ROM, optische Speicher, Pufferspeicher Magnetcassette Magnetplatte etc.) hbz Verbund-ID: HT003921676

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