Proceedings of the 16th International Conference on Defects in Semiconductors, 2: Lehigh University, Bethlehem, Pennsylvania, 22 - 26 July 1991
Zürich [u.a.]: Trans Tech Publ, 1992
Sammelwerk, Teil eines Werkes, Gedruckte Ressource
- S. 539 -1080 : Ill., graph. Darst.
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Titel: |
Proceedings of the 16th International Conference on Defects in Semiconductors, 2: Lehigh University, Bethlehem, Pennsylvania, 22 - 26 July 1991
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Verantwortlichkeitsangabe: | ed. by Gordon Davies .. |
Autor/in / Beteiligte Person: | Davies, Gordon |
Körperschaft: | International Conference on Defects in Semiconductors, 16, 1991, Bethlehem, Pa ; International Conference on Defects in Semiconductors ; Lehigh University |
Verwandtes Werk: | |
Veröffentlichung: | Zürich [u.a.]: Trans Tech Publ, 1992 |
Medientyp: | Sammelwerk, Teil eines Werkes |
Datenträgertyp: | Gedruckte Ressource |
Umfang: | S. 539 -1080 : Ill., graph. Darst. |
Sonstiges: |
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