Zum Hauptinhalt springen

Modelling of interface carrier transport for device simulation

Dietmar Schroeder
Wien [u.a.]: Springer, 1994
Monographie, Gedruckte Ressource - XI, 221 S. : graph. Darst.

Ermittle Ausleihstatus...

Titel:
Modelling of interface carrier transport for device simulation
Verantwortlichkeitsangabe: Dietmar Schroeder
Autor/in / Beteiligte Person: Schröder, Dietmar
Verwandtes Werk:
Veröffentlichung: Wien [u.a.]: Springer, 1994
Medientyp: Monographie
Datenträgertyp: Gedruckte Ressource
Umfang: XI, 221 S. : graph. Darst.
ISBN: 3211825398; 0387825398
Schlagwort:
  • Halbleitergrenzfläche
  • Ladungstransport
  • Simulation
Sonstiges:
  • Gesamttitelangabe: Computational microelectronics
  • Lokale Notationen: YEF; XWT; YEN
  • Fächer: Elektrotechnik
  • RVK: UP 3200 Transportprozesse in Halbleitern, Gunn-Element, Gunn-Effekt
  • hbz Verbund-ID: HT006388925

Klicken Sie ein Format an und speichern Sie dann die Daten oder geben Sie eine Empfänger-Adresse ein und lassen Sie sich per Email zusenden.

oder
oder

Wählen Sie das für Sie passende Zitationsformat und kopieren Sie es dann in die Zwischenablage, lassen es sich per Mail zusenden oder speichern es als PDF-Datei.

oder
oder

Bitte prüfen Sie, ob die Zitation formal korrekt ist, bevor Sie sie in einer Arbeit verwenden. Benutzen Sie gegebenenfalls den "Exportieren"-Dialog, wenn Sie ein Literaturverwaltungsprogramm verwenden und die Zitat-Angaben selbst formatieren wollen.

xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -