Proceedings of the Symposium on Diagnostic Techniques for Semiconductor Materials and Devices

Electronics Divisions. Eds. D. K. Schroder ..

Pennington, NJ: Electrochemical Society, 1994

Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource - XI, 387 S. : graph. Darst.

Titel:	Proceedings of the Symposium on Diagnostic Techniques for Semiconductor Materials and Devices
Verantwortlichkeitsangabe:	Electronics Divisions. Eds. D. K. Schroder ..
Autor/in / Beteiligte Person:	Schroder, Dieter K.
Körperschaft:	Electrochemical Society, Electronics Division ; Symposium on Diagnostic Techniques for Semiconductor Materials and Devices
Verwandtes Werk:	Proceedings volume / Electrochemical Society — Weitere Bände
Veröffentlichung:	Pennington, NJ: Electrochemical Society, 1994
Medientyp:	Konferenzschrift, Sammelwerk
Datenträgertyp:	Gedruckte Ressource
Umfang:	XI, 387 S. : graph. Darst.
ISBN:	1566770920
Schlagwort:	Halbleiterbauelement Werkstoffprüfung
Sonstiges:	Gesamttitelangabe: Proceedings volume / Electrochemical Society ; 94,33 Konferenzschrift: Miami Beach, Fla., 1994 Lokale Notationen: YEM; XWZ Fächer: Elektrotechnik RVK: UQ 8010 Werkstoffprüfung hbz Verbund-ID: HT006652715

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