Defect and impurity engineered semiconductors and devices: symposium held April 17 - 21, 1995, San Francisco, California, U.S.A

MRS, Materials Research Society. Eds.: S. Ashok ..

Pittsburgh, Pa.: MRS, 1995

Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource - XXI, 1054 S. : Ill., graph. Darst.

Titel:	Defect and impurity engineered semiconductors and devices: symposium held April 17 - 21, 1995, San Francisco, California, U.S.A
Verantwortlichkeitsangabe:	MRS, Materials Research Society. Eds.: S. Ashok ..
Autor/in / Beteiligte Person:	Ashok, S.
Körperschaft:	Materials Research Society
Link:	Inhaltsverzeichnis
Verwandtes Werk:	Materials Research Society symposium proceedings — Weitere Bände
Veröffentlichung:	Pittsburgh, Pa.: MRS, 1995
Medientyp:	Konferenzschrift, Sammelwerk
Datenträgertyp:	Gedruckte Ressource
Umfang:	XXI, 1054 S. : Ill., graph. Darst.
ISBN:	1558992812
Schlagwort:	Halbleiter Gitterbaufehler
Sonstiges:	Gesamttitelangabe: Materials Research Society symposium proceedings ; 378 Forts. u.d.T.: Defect and impurity engineered semiconductors Konferenzschrift: San Francisco, Calif., 1995 Lokale Notationen: YEN; XWT Fächer: Elektrotechnik RVK: UD 8400 Materials Research Society Symposium Proceedings hbz Verbund-ID: HT006808593

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