Proceedings of the 18th International Conference on Defects in Semiconductors, 2: Sendai, Japan, July 23 - 28, 1995

ed. by Masashi Suezawa ..

Zuerich-Uetikon: Trans Tech Publ, 1995

Sammelwerk, Teil eines Werkes, Gedruckte Ressource - LXIII S., S. 580 - 1107 : graph. Darst.

Titel:	Proceedings of the 18th International Conference on Defects in Semiconductors, 2: Sendai, Japan, July 23 - 28, 1995
Verantwortlichkeitsangabe:	ed. by Masashi Suezawa ..
Autor/in / Beteiligte Person:	Suezawa, Masashi
Körperschaft:	International Conference on Defects in Semiconductors, 18, 1995, Sendai ; International Conference on Defects in Semiconductors
Link:	Inhaltsverzeichnis
Verwandtes Werk:	Proceedings of the 18th International Conference on Defects in Semiconductors — Weitere Bände
Veröffentlichung:	Zuerich-Uetikon: Trans Tech Publ, 1995
Medientyp:	Sammelwerk, Teil eines Werkes
Datenträgertyp:	Gedruckte Ressource
Umfang:	LXIII S., S. 580 - 1107 : graph. Darst.
ISBN:	0878497137
Sonstiges:	Lokale Notationen: UIL Fächer: Physik hbz Verbund-ID: HT007118445

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