Testability concepts for digital ICs: the macro test approach

by F. P. M. Beenker, R. G. Bennetts and A. P. Thijssen

Dordrecht [u.a.]: Kluwer, 1995

Monographie, Gedruckte Ressource - IX, 212 S. : graph. Darst.

Titel:	Testability concepts for digital ICs: the macro test approach
Verantwortlichkeitsangabe:	by F. P. M. Beenker, R. G. Bennetts and A. P. Thijssen
Autor/in / Beteiligte Person:	Beenker, Frans P. M. ; Bennetts, R. G. ; Thijssen, A. P.
Verwandtes Werk:	Frontiers in electronic testing — Weitere Bände
Veröffentlichung:	Dordrecht [u.a.]: Kluwer, 1995
Medientyp:	Monographie
Datenträgertyp:	Gedruckte Ressource
Umfang:	IX, 212 S. : graph. Darst.
ISBN:	0792396588
Schlagwort:	Digitaler integrierter Schaltkreis Testbarkeit Digitale integrierte Schaltung
Sonstiges:	Gesamttitelangabe: Frontiers in electronic testing ; 3 Lokale Notationen: YEE Fächer: Elektrotechnik hbz Verbund-ID: HT007336368

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