Linear and nonlinear models for the analysis of repeated measurements

Edward F. Vonesh ; Vernon M. Chinchilli

1. print.. - New York [u.a.]: Dekker, 1997

Monographie, Gedruckte Ressource - XII, 560 S. : graph. Darst. ; Diskette

Titel:	Linear and nonlinear models for the analysis of repeated measurements
Verantwortlichkeitsangabe:	Edward F. Vonesh ; Vernon M. Chinchilli
Autor/in / Beteiligte Person:	Vonesh, Edward F. ; Chinchilli, Vernon M.
Verwandtes Werk:	Statistics — Weitere Bände
Ausgabe:	1. print.
Veröffentlichung:	New York [u.a.]: Dekker, 1997
Medientyp:	Monographie
Datenträgertyp:	Gedruckte Ressource
Umfang:	XII, 560 S. : graph. Darst. ; Diskette
ISBN:	0824782488; 0824796950
Schlagwort:	Lineares Modell Multivariate Analyse Statistisches Modell Wiederholungsmessung Datenanalyse
Sonstiges:	Gesamttitelangabe: Statistics ; 154 Diskette auf Standort 04 Lokale Notationen: TKL Fächer: Mathematik RVK: QH 234 Regression und Korrelation, Faktoren-, Komponenten-, Diskriminanzanalyse sowie sonstiger Methoden der mehrdimensionalen Analyse. Assoziation, Kontingenz, MOS, Kausalanalyse/Pfadanalyse/LISREL; SK 840 Spezielle statistische Verfahren hbz Verbund-ID: HT007421655

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