Surface, interface and stress effects in electronic material nanostructures: symposium held November 27 - December 1, 1995, Boston, Massachusetts, U.S.A

ed.: S. M. Prokes ..

Pittsburgh, Pa.: MRS, Materials Research Soc, 1996

Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource - XIII, 546 S. : Ill., graph. Darst.

Titel:	Surface, interface and stress effects in electronic material nanostructures: symposium held November 27 - December 1, 1995, Boston, Massachusetts, U.S.A
Verantwortlichkeitsangabe:	ed.: S. M. Prokes ..
Autor/in / Beteiligte Person:	Prokes, S. M.
Link:	Inhaltsverzeichnis
Verwandtes Werk:	Materials Research Society symposium proceedings — Weitere Bände
Veröffentlichung:	Pittsburgh, Pa.: MRS, Materials Research Soc, 1996
Medientyp:	Konferenzschrift, Sammelwerk
Datenträgertyp:	Gedruckte Ressource
Umfang:	XIII, 546 S. : Ill., graph. Darst.
ISBN:	1558993088
Schlagwort:	Halbleitergrenzfläche Elektronik Werkstoff Nanostruktur Grenzfläche
Sonstiges:	Gesamttitelangabe: Materials Research Society symposium proceedings ; 405 Konferenzschrift: Boston, Mass., 1995 Lokale Notationen: XWS Fächer: Elektrotechnik RVK: UP 7570 Halbleiter-Schichten; UD 8400 Materials Research Society Symposium Proceedings hbz Verbund-ID: HT007479335

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