High level test synthesis of digital VLSI circuits

Mike Tien-Chien Lee

Boston [u.a.]: Artech House, 1997

Monographie, Gedruckte Ressource - XI, 220 S. : graph. Darst.

Titel:	High level test synthesis of digital VLSI circuits
Verantwortlichkeitsangabe:	Mike Tien-Chien Lee
Autor/in / Beteiligte Person:	Lee, Mike Tien-Chien
Verwandtes Werk:	The Artech House solid state technology library
Veröffentlichung:	Boston [u.a.]: Artech House, 1997
Medientyp:	Monographie
Datenträgertyp:	Gedruckte Ressource
Umfang:	XI, 220 S. : graph. Darst.
ISBN:	0890069077
Schlagwort:	VLSI Integrierte Schaltung Test
Sonstiges:	Gesamttitelangabe: The Artech House solid state technology library Lokale Notationen: YEE Fächer: Elektrotechnik RVK: ZN 4950 Schaltungen der Grossintegration (LSI) hbz Verbund-ID: HT007483451

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