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High speed inspection architectures, barcoding, and character recognition: 5 - 7 November 1990, Boston, Massachusetts

sponsored by SPIE - The International Society for Optical Engineering. Michael J. Chen, chair/ed
Bellingham, Wash., 1991
Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource - IX, 355 S. : Ill., graph. Darst.

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Titel:
High speed inspection architectures, barcoding, and character recognition: 5 - 7 November 1990, Boston, Massachusetts
Verantwortlichkeitsangabe: sponsored by SPIE - The International Society for Optical Engineering. Michael J. Chen, chair/ed
Autor/in / Beteiligte Person: Chen, Michael J.
Körperschaft: Society of Photo-optical Instrumentation Engineers
Verwandtes Werk:
Veröffentlichung: Bellingham, Wash., 1991
Medientyp: Konferenzschrift, Sammelwerk
Datenträgertyp: Gedruckte Ressource
Umfang: IX, 355 S. : Ill., graph. Darst.
ISBN: 0819404519
Schlagwort:
  • Strichcode
  • Zeichenerkennung
Sonstiges:
  • Gesamttitelangabe: Proceedings / SPIE, the International Society for Optical Engineering ; 1384
  • Konferenzschrift: Boston, Mass., 1990
  • Lokale Notationen: YCG; TZH; WFF
  • Fächer: Elektrotechnik; Informatik; Ingenieurwissenschaft / Technik
  • hbz Verbund-ID: HT007588896

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