High speed inspection architectures, barcoding, and character recognition: 5 - 7 November 1990, Boston, Massachusetts
Bellingham, Wash., 1991
Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
- IX, 355 S. : Ill., graph. Darst.
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Titel: |
High speed inspection architectures, barcoding, and character recognition: 5 - 7 November 1990, Boston, Massachusetts
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Verantwortlichkeitsangabe: | sponsored by SPIE - The International Society for Optical Engineering. Michael J. Chen, chair/ed |
Autor/in / Beteiligte Person: | Chen, Michael J. |
Körperschaft: | Society of Photo-optical Instrumentation Engineers |
Verwandtes Werk: | |
Veröffentlichung: | Bellingham, Wash., 1991 |
Medientyp: | Konferenzschrift, Sammelwerk |
Datenträgertyp: | Gedruckte Ressource |
Umfang: | IX, 355 S. : Ill., graph. Darst. |
ISBN: | 0819404519 |
Schlagwort: |
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Sonstiges: |
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