A near field measurement system for measuring electric and magnetic fields in planar high frequency circuits

Yingjie Gao

Als Ms. gedr.. - Düsseldorf: VDI-Verl, 1998

Monographie, Hochschulschrift, Gedruckte Ressource - IX, 147 S. : Ill., graph. Darst.

Titel:	A near field measurement system for measuring electric and magnetic fields in planar high frequency circuits
Verantwortlichkeitsangabe:	Yingjie Gao
Autor/in / Beteiligte Person:	Gao, Yingjie
Link:	Inhaltsverzeichnis
Verwandtes Werk:	Fortschritt-Berichte VDI : Reihe 21, Elektrotechnik — Weitere Bände
Ausgabe:	Als Ms. gedr.
Veröffentlichung:	Düsseldorf: VDI-Verl, 1998
Medientyp:	Monographie, Hochschulschrift
Datenträgertyp:	Gedruckte Ressource
Umfang:	IX, 147 S. : Ill., graph. Darst.
ISBN:	3183244217
Schlagwort:	Mikrowellenschaltung Koplanarleitung Elektromagnetische Verträglichkeit Nahfeld
Sonstiges:	Gesamttitelangabe: Fortschritt-Berichte VDI : Reihe 21, Elektrotechnik ; 244 Duisburg, Univ.-Gesamthochschule, Diss., 1997 Lokale Notationen: XXP Fächer: Elektrotechnik hbz Verbund-ID: HT008354640

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