Proceedings / International Workshop on Memory Technology, Design and Testing: August 24 - 25, 1998, San Jose, California, USA
Los Alamitos, Calif. [u.a.]: IEEE Computer Society, 1998
Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
- IX,131 S. : Ill., graph. Darst.
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Titel: |
Proceedings / International Workshop on Memory Technology, Design and Testing: August 24 - 25, 1998, San Jose, California, USA
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Verantwortlichkeitsangabe: | sponsored by IEEE Computer Society Technical Committee on Test Technology ... Ed. by D. Lepejian .. |
Autor/in / Beteiligte Person: | Lepejian, David |
Körperschaft: | International Workshop on Memory Technology, Design and Testing, 6, 1998, San José, Calif ; International Workshop on Memory Technology, Design and Testing ; IEEE Computer Society, Test Technology Technical Committee |
Veröffentlichung: | Los Alamitos, Calif. [u.a.]: IEEE Computer Society, 1998 |
Medientyp: | Konferenzschrift, Sammelwerk |
Datenträgertyp: | Gedruckte Ressource |
Umfang: | IX,131 S. : Ill., graph. Darst. |
ISBN: | 0818684941 |
Sonstiges: |
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