Zum Hauptinhalt springen

Proceedings / 1998 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems: November 2 - 4, 1998, Austin, Texas

sponsored by IEEE Computer Society ..
Los Alamitos, Calif. [u.a.]: IEEE Computer Soc, 1998
Monographie, Konferenzschrift, Gedruckte Ressource - XI, 355 S. : graph. Darst.

Ermittle Ausleihstatus...

Titel:
Proceedings / 1998 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems: November 2 - 4, 1998, Austin, Texas
Verantwortlichkeitsangabe: sponsored by IEEE Computer Society ..
Körperschaft: International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems, 1998, Austin, Tex ; International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems ; IEEE Computer Society
Veröffentlichung: Los Alamitos, Calif. [u.a.]: IEEE Computer Soc, 1998
Medientyp: Monographie, Konferenzschrift
Datenträgertyp: Gedruckte Ressource
Umfang: XI, 355 S. : graph. Darst.
ISBN: 0818688327
Sonstiges:
  • Lokale Notationen: TWB; TWD; YEE
  • Fächer: Informatik; Elektrotechnik
  • hbz Verbund-ID: HT010908187

Klicken Sie ein Format an und speichern Sie dann die Daten oder geben Sie eine Empfänger-Adresse ein und lassen Sie sich per Email zusenden.

oder
oder

Wählen Sie das für Sie passende Zitationsformat und kopieren Sie es dann in die Zwischenablage, lassen es sich per Mail zusenden oder speichern es als PDF-Datei.

oder
oder

Bitte prüfen Sie, ob die Zitation formal korrekt ist, bevor Sie sie in einer Arbeit verwenden. Benutzen Sie gegebenenfalls den "Exportieren"-Dialog, wenn Sie ein Literaturverwaltungsprogramm verwenden und die Zitat-Angaben selbst formatieren wollen.

xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -