Methods to measure and modify electrical properties on a nanometer scale and their applications in science and technology

presented by Heinrich Otto Heiko Jacobs

[Mikrofiche-Ausg.]. - 1999

Monographie, Hochschulschrift, Mikroform - III, 105 S. : graph. Darst.

Titel:	Methods to measure and modify electrical properties on a nanometer scale and their applications in science and technology
Verantwortlichkeitsangabe:	presented by Heinrich Otto Heiko Jacobs
Autor/in / Beteiligte Person:	Jacobs, Heinrich Otto Heiko
Ausgabe:	[Mikrofiche-Ausg.]
Veröffentlichung:	1999
Medientyp:	Monographie, Hochschulschrift
Datenträgertyp:	Mikroform
Umfang:	III, 105 S. : graph. Darst.
Sonstiges:	Zürich, Eidgenössische Techn. Hochsch., Diss., 1999 Mikrofiche-Ausg.:, 1999. 2 Mikrofiches : 24x Lokale Notationen: UBJ; XXN Fächer: Physik; Elektrotechnik hbz Verbund-ID: HT011095033

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