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Pattern recognition with support vector machines: first international workshop ; proceedings

SVM 2002, Niagara Falls, Canada, August 10, 2002. Seong-Whan Lee ; Alessandro Verri (ed.)
Berlin, Heidelberg, New York, Barcelona, Hong Kong, London, Milan, Paris, Tokyo: Springer, 2002
Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource - XI, 420 S. : Ill., graph. Darst. ; 24 cm

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Titel:
Pattern recognition with support vector machines: first international workshop ; proceedings
Verantwortlichkeitsangabe: SVM 2002, Niagara Falls, Canada, August 10, 2002. Seong-Whan Lee ; Alessandro Verri (ed.)
Autor/in / Beteiligte Person: Lee, Seong-Whan
Körperschaft: SVM
Link:
Verwandtes Werk:
Veröffentlichung: Berlin, Heidelberg, New York, Barcelona, Hong Kong, London, Milan, Paris, Tokyo: Springer, 2002
Medientyp: Konferenzschrift, Sammelwerk
Datenträgertyp: Gedruckte Ressource
Umfang: XI, 420 S. : Ill., graph. Darst. ; 24 cm
ISBN: 354044016X kart. : EUR 52.00
Schlagwort:
  • Mustererkennung
  • Support-Vektor-Maschine
Sonstiges:
  • Gesamttitelangabe: Lecture notes in computer science ; 2388
  • Literaturangaben
  • Konferenzschrift: Niagara Falls, Ontario, 2002
  • Lokale Notationen: TUQ; TZH; TZD; TVC
  • Fächer: Informatik
  • RVK: SS 4800 Lecture notes in computer science
  • hbz Verbund-ID: HT013424486

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