Pattern recognition with support vector machines: first international workshop ; proceedings
Berlin, Heidelberg, New York, Barcelona, Hong Kong, London, Milan, Paris, Tokyo: Springer, 2002
Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
- XI, 420 S. : Ill., graph. Darst. ; 24 cm
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Titel: |
Pattern recognition with support vector machines: first international workshop ; proceedings
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Verantwortlichkeitsangabe: | SVM 2002, Niagara Falls, Canada, August 10, 2002. Seong-Whan Lee ; Alessandro Verri (ed.) |
Autor/in / Beteiligte Person: | Lee, Seong-Whan |
Körperschaft: | SVM |
Link: | |
Verwandtes Werk: | |
Veröffentlichung: | Berlin, Heidelberg, New York, Barcelona, Hong Kong, London, Milan, Paris, Tokyo: Springer, 2002 |
Medientyp: | Konferenzschrift, Sammelwerk |
Datenträgertyp: | Gedruckte Ressource |
Umfang: | XI, 420 S. : Ill., graph. Darst. ; 24 cm |
ISBN: | 354044016X kart. : EUR 52.00 |
Schlagwort: |
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Sonstiges: |
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